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ケーエルエー−テンカー　コーポレイション

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ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特許 7675179	画像ハッシュを用いた教師なしパターン同義物検出	2025年 5月12日
特許 7675204	結像条件を推定し改善するための画像コントラストメトリック	2025年 5月12日
特許 7674503	パターンウエハ形状測定上の検出支援２段階位相アンラッピング	2025年 5月 9日
特許 7668369	半導体欠陥誘導バーンインおよびシステムレベル試験のためのシステムおよび方法	2025年 4月24日
特許 7667884	ターゲットの配置精度を向上させるためのオーバーレイターゲットの設計	2025年 4月23日
特許 7667184	ウェハアライメントのためのシステム、方法、及びターゲット	2025年 4月22日
特許 7665036	高抵抗率試験試料を測定する方法	2025年 4月18日
特許 7664405	半導体ダイパッケージの信頼性を評価するためのシステムおよび方法	2025年 4月17日
特許 7662805	マルチフィールド走査オーバレイ計測	2025年 4月15日
特許 7661309	モアレ要素及び回転対称配列を用いるイメージングオーバレイターゲット	2025年 4月14日
特許 7656031	可解釈な深層学習ベース欠陥検出及び分類	2025年 4月 2日
特許 7653445	接合されたウェハのオーバレイ計測	2025年 3月28日
特許 7645831	照明源及びプラズマ光源	2025年 3月14日
特許 7644721	極端紫外線計測のための光学的エタンデュ整合方法及びシステム	2025年 3月12日
特許 7642797	三次元ウェハ構造向けビニング増強欠陥検出方法	2025年 3月10日

86 件中 46-60 件を表示

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7675179 7675204 7674503 7668369 7667884 7667184 7665036 7664405 7662805 7661309 7656031 7653445 7645831 7644721 7642797

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