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ケーエルエー−テンカー コーポレイション

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  2024年 特許取得件数ランキング    第294位 93件 上昇2023年:第345位 92件)

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公報番号発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)公報発行日備考
特許 7500694 計測ターゲット設計の方法、計測モジュール、及び計測ターゲットの製造方法 2024年 6月17日
特許 7498771 プラズモニック光電陰極放出器 2024年 6月12日
特許 7498856 位置ずれの散乱計測による単一波長測定およびその改良のためのシステムおよび方法 2024年 6月12日
特許 7490762 計測のための信号-領域適応 2024年 5月27日
特許 7490094 機械学習を用いた半導体オーバーレイ測定 2024年 5月24日
特許 7489404 光学被覆材料としての四ホウ酸ストロンチウム 2024年 5月23日
特許 7489508 検査システムにおける輻射誘起性偽カウントを低減するシステム 2024年 5月23日
特許 7486621 X線スキャトロメトリシステムのフルビーム計測 2024年 5月17日
特許 7483761 光源のキャビティの圧力制御 2024年 5月15日
特許 7482981 光計測において照明を提供するためのシステム 2024年 5月14日
特許 7483021 マルチ電子ビームシステム用のマイクロスティグマトールアレイ 2024年 5月14日
特許 7482193 広帯域レーザ産生プラズマイルミネータを有するX線計量システム及び方法 2024年 5月13日
特許 7478738 計測システム及び方法 2024年 5月 7日
特許 7477564 ホットスポット及びプロセスウィンドウ監視装置 2024年 5月 1日
特許 7470827 円筒対称要素上を覆うターゲット素材を有するレーザ生成プラズマ光源 2024年 4月18日

93 件中 46-60 件を表示

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7500694 7498771 7498856 7490762 7490094 7489404 7489508 7486621 7483761 7482981 7483021 7482193 7478738 7477564 7470827

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