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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2016年 出願公開件数ランキング 第182位 243件
（
2015年：第107位 423件）
■ 2016年 特許取得件数ランキング 第89位 360件
（
2015年：第95位 287件）
（ランキング更新日：2024年12月4日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5923314 | 自動分析装置 | 2016年 5月24日 | |
| 特許 5923364 | 熱アシスト磁気ヘッド素子検査方法及びその装置 | 2016年 5月24日 | |
| 特許 5923396 | 自動分析装置 | 2016年 5月24日 | |
| 特許 5923412 | 観察装置および光軸調整方法 | 2016年 5月24日 | |
| 特許 5923598 | 頭部血流計測用遮光具の装着のチェック方法およびチェック装置 | 2016年 5月24日 | |
| 特許 5918009 | 欠陥検査方法および欠陥検査装置 | 2016年 5月18日 | |
| 特許 5918886 | プラズマ処理方法 | 2016年 5月18日 | |
| 特許 5918999 | 真空容器を備えた荷電粒子線照射装置 | 2016年 5月18日 | |
| 特許 5919049 | 電界放出型電子源 | 2016年 5月18日 | |
| 特許 5919183 | プラズマエッチング方法 | 2016年 5月18日 | |
| 特許 5919218 | 核酸分析装置及び核酸分析方法 | 2016年 5月18日 | |
| 特許 5919364 | 自動分析装置 | 2016年 5月18日 | |
| 特許 5919368 | 荷電粒子線装置 | 2016年 5月18日 | |
| 特許 5914020 | 荷電粒子線装置 | 2016年 5月11日 | |
| 特許 5911603 | 自動分析装置 | 2016年 4月27日 |
362 件中 241-255 件を表示
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5923314 5923364 5923396 5923412 5923598 5918009 5918886 5918999 5919049 5919183 5919218 5919364 5919368 5914020 5911603
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12月6日(金) - 愛知 豊橋市花田町
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