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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2016年 出願公開件数ランキング 第182位 243件
（
2015年：第107位 423件）
■ 2016年 特許取得件数ランキング 第89位 360件
（
2015年：第95位 287件）
（ランキング更新日：2025年8月25日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6037707 | プラズマ処理装置及びプラズマ処理装置の診断方法 | 2016年12月 7日 | |
| 特許 6037783 | 自動分析装置、自動分析調整支援方法および自動分析調整支援プログラム | 2016年12月 7日 | |
| 特許 6037814 | プラズマ処理装置 | 2016年12月 7日 | |
| 特許 6038053 | パターン評価方法およびパターン評価装置 | 2016年12月 7日 | |
| 特許 6039940 | 自動分析装置 | 2016年12月 7日 | |
| 特許 6040012 | 試料台及び荷電粒子線装置及び試料観察方法 | 2016年12月 7日 | |
| 特許 6040314 | プラズマ処理方法 | 2016年12月 7日 | |
| 特許 6032672 | 自動分析装置 | 2016年11月30日 | |
| 特許 6033550 | 自動分析装置 | 2016年11月30日 | |
| 特許 6033602 | 生体分子検出方法、生体分子検出装置、および分析用デバイス | 2016年11月30日 | |
| 特許 6035598 | 荷電粒子線装置 | 2016年11月30日 | |
| 特許 6035602 | 荷電粒子線装置、試料台ユニット、及び試料観察方法 | 2016年11月30日 | |
| 特許 6035603 | 試料導入装置 | 2016年11月30日 | |
| 特許 6035606 | プラズマ処理方法およびプラズマ処理装置 | 2016年11月30日 | |
| 特許 6035928 | 荷電粒子線装置 | 2016年11月30日 |
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6037707 6037783 6037814 6038053 6039940 6040012 6040314 6032672 6033550 6033602 6035598 6035602 6035603 6035606 6035928
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