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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2016年 出願公開件数ランキング 第182位 243件
（
2015年：第107位 423件）
■ 2016年 特許取得件数ランキング 第89位 360件
（
2015年：第95位 287件）
（ランキング更新日：2024年11月28日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6013796 | 自動分析装置及び試料測定方法 | 2016年10月25日 | |
| 特許 6014156 | 電子源の製造方法 | 2016年10月25日 | |
| 特許 6014408 | プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法 | 2016年10月25日 | |
| 特許 6014480 | 生体分子計測装置および生体分子の計測方法 | 2016年10月25日 | |
| 特許 6014688 | 複合荷電粒子線装置 | 2016年10月25日 | |
| 特許 6008877 | 自動分析装置および自動分析装置における試薬処理方法 | 2016年10月19日 | |
| 特許 6008990 | 検査装置、及び調整方法 | 2016年10月19日 | |
| 特許 6009956 | 欠陥検査装置および欠陥検査方法 | 2016年10月19日 | |
| 特許 6004578 | 液体クロマトグラフ装置 | 2016年10月12日 | |
| 特許 6004956 | パターン評価装置、及び、パターン評価装置を備えた外観検査装置 | 2016年10月12日 | |
| 特許 6000652 | パルスモータ制御装置およびパルス信号生成方法 | 2016年10月 5日 | |
| 特許 6000656 | 樹脂スタンパ製造装置及び樹脂スタンパの製造方法 | 2016年10月 5日 | |
| 特許 6001383 | 欠陥検査方法及びそれを用いた装置 | 2016年10月 5日 | |
| 特許 6001945 | パターン計測装置及び方法 | 2016年10月 5日 | |
| 特許 6002428 | 荷電粒子線装置 | 2016年10月 5日 |
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6013796 6014156 6014408 6014480 6014688 6008877 6008990 6009956 6004578 6004956 6000652 6000656 6001383 6001945 6002428
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