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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2016年 出願公開件数ランキング 第182位 243件
（
2015年：第107位 423件）
■ 2016年 特許取得件数ランキング 第89位 360件
（
2015年：第95位 287件）
（ランキング更新日：2025年8月25日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6029293 | 走査型電子顕微鏡の画像処理装置、および、走査方法 | 2016年11月24日 | |
| 特許 6029366 | 前処理・電気泳動用一体型カートリッジ、前処理一体型キャピラリ電気泳動装置及び前処理一体型キャピラリ電気泳動方法 | 2016年11月24日 | |
| 特許 6029502 | 曲面回折格子の製造方法 | 2016年11月24日 | |
| 特許 6030015 | 磁気リードライト検査方法及びその装置 | 2016年11月24日 | |
| 特許 6030153 | 生体分子計測装置 | 2016年11月24日 | |
| 特許 6030490 | 核酸分析装置及びその温度制御方法 | 2016年11月24日 | |
| 特許 6031151 | 欠陥検査方法及びその装置 | 2016年11月24日 | |
| 特許 6031552 | 自動分析装置及び分析方法 | 2016年11月24日 | |
| 特許 6025397 | 自動分析装置 | 2016年11月16日 | |
| 特許 6025406 | 質量分析装置 | 2016年11月16日 | |
| 特許 6025910 | 電子線を用いた撮像方法および電子線装置 | 2016年11月16日 | |
| 特許 6026753 | 自動分析装置 | 2016年11月16日 | |
| 特許 6027338 | 軌道検測装置システムの車両床下搭載方法及び軌道検測装置システム | 2016年11月16日 | |
| 特許 6027362 | 半導体の輪郭線データを広視野化する画像処理装置、及びコンピュータプログラム | 2016年11月16日 | |
| 特許 6027480 | 軌道検測方法及び装置 | 2016年11月16日 |
362 件中 46-60 件を表示
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6029293 6029366 6029502 6030015 6030153 6030490 6031151 6031552 6025397 6025406 6025910 6026753 6027338 6027362 6027480
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