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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2016年 出願公開件数ランキング 第182位 243件
（
2015年：第107位 423件）
■ 2016年 特許取得件数ランキング 第89位 360件
（
2015年：第95位 287件）
（ランキング更新日：2025年8月25日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5998004 | 荷電粒子線装置 | 2016年 9月28日 | |
| 特許 5998068 | 画像処理装置、測定システム、画像処理プログラム | 2016年 9月28日 | |
| 特許 5998217 | 分析装置及び分析方法 | 2016年 9月28日 | |
| 特許 5998218 | 磁力体カバー及び核酸抽出装置 | 2016年 9月28日 | |
| 特許 5997039 | 欠陥検査方法および欠陥検査装置 | 2016年 9月21日 | |
| 特許 5993230 | 微細構造転写装置及び微細構造転写スタンパ | 2016年 9月14日 | |
| 特許 5993259 | 質量分析システム | 2016年 9月14日 | |
| 特許 5993652 | 自動分析装置 | 2016年 9月14日 | |
| 特許 5993668 | 荷電粒子線装置 | 2016年 9月14日 | |
| 特許 5993691 | 欠陥検査装置及び欠陥検査方法 | 2016年 9月14日 | |
| 特許 5993737 | 自動分析装置 | 2016年 9月14日 | |
| 特許 5993781 | 計測方法および計測装置 | 2016年 9月14日 | |
| 特許 5993865 | 自動分析システム | 2016年 9月14日 | |
| 特許 5988558 | 試験管判定装置、当該試験管判定装置を有する試験管供給装置およびその制御方法 | 2016年 9月 7日 | |
| 特許 5988615 | 半導体評価装置、及びコンピュータープログラム | 2016年 9月 7日 |
362 件中 106-120 件を表示
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5998004 5998068 5998217 5998218 5997039 5993230 5993259 5993652 5993668 5993691 5993737 5993781 5993865 5988558 5988615
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