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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2016年 出願公開件数ランキング 第182位 243件
（
2015年：第107位 423件）
■ 2016年 特許取得件数ランキング 第89位 360件
（
2015年：第95位 287件）
（ランキング更新日：2025年8月25日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5984290 | 自動分析装置 | 2016年 9月 6日 | |
| 特許 5984584 | 自動分析装置 | 2016年 9月 6日 | |
| 特許 5985040 | データ解析装置、及びその方法 | 2016年 9月 6日 | |
| 特許 5986436 | 自動分析装置 | 2016年 9月 6日 | |
| 特許 5986817 | オーバーレイ誤差測定装置、及びコンピュータープログラム | 2016年 9月 6日 | |
| 特許 5980030 | 生化学処理装置 | 2016年 8月31日 | |
| 特許 5982551 | 自動分析装置 | 2016年 8月31日 | |
| 特許 5977200 | 電子顕微鏡および電子顕微鏡制御方法 | 2016年 8月24日 | |
| 特許 5977986 | 熱処理装置 | 2016年 8月24日 | |
| 特許 5978036 | 自動分析装置 | 2016年 8月24日 | |
| 特許 5978039 | 自動分析装置 | 2016年 8月24日 | |
| 特許 5978147 | 生体物質分析装置 | 2016年 8月24日 | |
| 特許 5978162 | 欠陥検査方法および欠陥検査装置 | 2016年 8月24日 | |
| 特許 5973245 | 昇温脱離ガス分析装置及び試料支持板フォルダ | 2016年 8月23日 | |
| 特許 5973404 | 蛍光検出装置及び蛍光検出方法 | 2016年 8月23日 |
362 件中 121-135 件を表示
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5984290 5984584 5985040 5986436 5986817 5980030 5982551 5977200 5977986 5978036 5978039 5978147 5978162 5973245 5973404
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