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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2021年 出願公開件数ランキング 第126位 332件
（
2020年：第191位 225件）
■ 2021年 特許取得件数ランキング 第118位 240件
（2020年：第127位 223件）
（ランキング更新日：2025年9月9日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6817752 | エッチング方法およびエッチング装置 | 2021年 1月20日 | |
| 特許 6818402 | プラズマ処理装置 | 2021年 1月20日 | |
| 特許 6811324 | 荷電粒子線装置 | 2021年 1月13日 | |
| 特許 6811682 | 質量分析装置およびノズル部材 | 2021年 1月13日 | |
| 特許 6811860 | 荷電粒子線装置およびクリーニング方法 | 2021年 1月13日 | |
| 特許 6812561 | 荷電粒子線装置 | 2021年 1月13日 | |
| 特許 6812577 | 自動分析装置および自動分析方法 | 2021年 1月13日 | |
| 特許 6814171 | 自動分析装置 | 2021年 1月13日 | |
| 特許 6814282 | 荷電粒子線装置 | 2021年 1月13日 | |
| 特許 6814300 | 自動分析装置 | 2021年 1月13日 | |
| 特許 6814301 | 電子銃および電子ビーム応用装置 | 2021年 1月13日 | |
| 特許 6814303 | イオンミリング装置 | 2021年 1月13日 | |
| 特許 6807393 | 荷電粒子線装置 | 2021年 1月 6日 | |
| 特許 6807488 | ガス成分のモニタ方法及びその装置並びにそれを用いた処理装置 | 2021年 1月 6日 | |
| 特許 6807688 | 自動分析装置 | 2021年 1月 6日 |
241 件中 226-240 件を表示
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6817752 6818402 6811324 6811682 6811860 6812561 6812577 6814171 6814282 6814300 6814301 6814303 6807393 6807488 6807688
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