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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2021年 出願公開件数ランキング 第126位 332件
（
2020年：第191位 225件）
■ 2021年 特許取得件数ランキング 第118位 240件
（2020年：第127位 223件）
（ランキング更新日：2025年9月9日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6828095 | イオンミリング方法 | 2021年 2月10日 | |
| 特許 6828192 | 自動分析装置 | 2021年 2月10日 | |
| 特許 6829316 | 磁気抵抗素子の製造方法 | 2021年 2月10日 | |
| 特許 6824064 | 自動分析装置 | 2021年 2月 3日 | |
| 特許 6825069 | 真空処理装置 | 2021年 2月 3日 | |
| 特許 6825116 | 材料仕様情報サーバ、材料選択支援方法及び材料選択支援システム | 2021年 2月 3日 | |
| 特許 6826047 | 生体分子測定装置 | 2021年 2月 3日 | |
| 特許 6820660 | 荷電粒子線装置 | 2021年 1月27日 | |
| 特許 6820717 | プラズマ処理装置 | 2021年 1月27日 | |
| 特許 6820775 | エッチング方法及びプラズマ処理装置 | 2021年 1月27日 | |
| 特許 6820902 | プラズマ処理装置、データ処理装置およびデータ処理方法 | 2021年 1月27日 | |
| 特許 6820907 | 発光検出装置 | 2021年 1月27日 | |
| 特許 6815794 | 自動分析装置 | 2021年 1月20日 | |
| 特許 6815801 | 自動分析装置 | 2021年 1月20日 | |
| 特許 6816154 | 自動分析装置および自動分析システム並びに試薬リストの表示方法 | 2021年 1月20日 |
241 件中 211-225 件を表示
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6828095 6828192 6829316 6824064 6825069 6825116 6826047 6820660 6820717 6820775 6820902 6820907 6815794 6815801 6816154
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