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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2023年 出願公開件数ランキング 第263位 136件
（
2022年：第259位 138件）
■ 2023年 特許取得件数ランキング 第87位 361件
（2022年：第85位 351件）
（ランキング更新日：2024年11月13日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7389817 | ラメラの作製方法、解析システムおよび試料の解析方法 | 2023年11月30日 | |
| 特許 7389938 | 温度検出装置および半導体処理装置 | 2023年11月30日 | |
| 特許 7387304 | 搬送装置および搬送方法 | 2023年11月28日 | |
| 特許 7387880 | ピンセット、搬送装置および試料片の搬送方法 | 2023年11月28日 | |
| 特許 7386321 | 自動分析システム | 2023年11月24日 | |
| 特許 7386348 | プラズマ処理装置 | 2023年11月24日 | |
| 特許 7385003 | 光フィルタリングデバイス、光学顕微鏡及び欠陥観察装置 | 2023年11月21日 | |
| 特許 7385054 | 半導体検査装置および半導体試料の検査方法 | 2023年11月21日 | |
| 特許 7383079 | 細胞検出装置 | 2023年11月17日 | |
| 特許 7383137 | 燃料電池セルおよびその製造方法 | 2023年11月17日 | |
| 特許 7383147 | 基板保持装置及び基板処理装置 | 2023年11月17日 | |
| 特許 7382497 | 電磁弁異常検出装置、それを用いた医用自動分析装置および電磁弁異常検出方法 | 2023年11月16日 | |
| 特許 7381432 | 荷電粒子線装置 | 2023年11月15日 | |
| 特許 7381515 | 電子線応用装置 | 2023年11月15日 | |
| 特許 7379534 | イオンミリング装置 | 2023年11月14日 |
363 件中 31-45 件を表示
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7389817 7389938 7387304 7387880 7386321 7386348 7385003 7385054 7383079 7383137 7383147 7382497 7381432 7381515 7379534
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