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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2023年 出願公開件数ランキング 第263位 136件
（
2022年：第259位 138件）
■ 2023年 特許取得件数ランキング 第87位 361件
（2022年：第85位 351件）
（ランキング更新日：2024年11月13日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7353473 | 荷電粒子銃および荷電粒子ビームシステム | 2023年 9月29日 | |
| 特許 7352718 | 半導体解析システム | 2023年 9月28日 | |
| 特許 7351897 | 液体クロマトグラフ分析装置、及びその制御方法 | 2023年 9月27日 | |
| 特許 7350916 | イオンミリング装置及びイオンミリング装置のイオン源調整方法 | 2023年 9月26日 | |
| 特許 7350972 | 自動分析装置 | 2023年 9月26日 | |
| 特許 7350983 | 半導体装置製造方法およびプラズマ処理方法 | 2023年 9月26日 | |
| 特許 7350995 | プラズマ処理装置 | 2023年 9月26日 | |
| 特許 7350189 | 検体ラック移送装置およびそれを用いた自動分析装置 | 2023年 9月25日 | |
| 特許 7348786 | 自動分析装置 | 2023年 9月21日 | |
| 特許 7349011 | 電子銃及び電子顕微鏡 | 2023年 9月21日 | |
| 特許 7348182 | 凹面回折格子の製造方法、製造装置及び凹面回折格子 | 2023年 9月20日 | |
| 特許 7348408 | 自動分析装置 | 2023年 9月20日 | |
| 特許 7346644 | パターン計測方法、パターン計測装置、およびパターン計測プログラム | 2023年 9月19日 | |
| 特許 7346739 | 荷電粒子線装置および試料観察方法 | 2023年 9月19日 | |
| 特許 7346749 | 保冷庫、及び分析装置 | 2023年 9月19日 |
363 件中 91-105 件を表示
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7353473 7352718 7351897 7350916 7350972 7350983 7350995 7350189 7348786 7349011 7348182 7348408 7346644 7346739 7346749
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