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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2023年 出願公開件数ランキング 第263位 136件
（
2022年：第259位 138件）
■ 2023年 特許取得件数ランキング 第87位 361件
（2022年：第85位 351件）
（ランキング更新日：2024年11月22日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7371245 | 自動分析装置、自動分析方法 | 2023年10月30日 | |
| 特許 7369869 | 微粒子回収システム及び微粒子回収方法 | 2023年10月26日 | |
| 特許 7369057 | 自動分析装置 | 2023年10月25日 | |
| 特許 7367215 | 荷電粒子線装置、およびそのフォーカス調整方法 | 2023年10月23日 | |
| 特許 7366152 | イオンミリング装置 | 2023年10月20日 | |
| 特許 7366259 | 荷電粒子線装置において試料の位置を制御する方法、プログラム、記憶媒体、制御装置および荷電粒子線装置 | 2023年10月20日 | |
| 特許 7366266 | 電子源、電子銃、及び荷電粒子線装置 | 2023年10月20日 | |
| 特許 7364377 | 爆発物検査装置 | 2023年10月18日 | |
| 特許 7364540 | 画像処理システム | 2023年10月18日 | |
| 特許 7364758 | プラズマ処理方法 | 2023年10月18日 | |
| 特許 7364798 | キャピラリ電気泳動装置 | 2023年10月18日 | |
| 特許 7362927 | 荷電粒子線装置、及び荷電粒子線装置における撮像条件調整方法 | 2023年10月17日 | |
| 特許 7361920 | 遠赤外分光装置 | 2023年10月16日 | |
| 特許 7361213 | 荷電粒子線装置、荷電粒子線装置の制御方法 | 2023年10月13日 | |
| 特許 7360305 | 真空処理装置 | 2023年10月12日 |
363 件中 61-75 件を表示
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7371245 7369869 7369057 7367215 7366152 7366259 7366266 7364377 7364540 7364758 7364798 7362927 7361920 7361213 7360305
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