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■ 2024年 出願公開件数ランキング 第199位 176件 (2023年:第241位 152件)
■ 2024年 特許取得件数ランキング 第228位 146件 (2023年:第207位 169件)
(ランキング更新日:2025年1月9日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特許 7554985 | ウェーハチャック、温度制御システム及び温度制御方法 | 2024年 9月24日 | |
特許 7553810 | 亀裂検出装置及び方法 | 2024年 9月19日 | |
特許 7553811 | 亀裂検出における検出光の入射角測定方法及び装置並びに亀裂検出方法及び装置 | 2024年 9月19日 | |
特許 7553812 | 亀裂検出装置及び方法 | 2024年 9月19日 | |
特許 7553815 | 形状測定機及び形状測定機のアライメント方法 | 2024年 9月19日 | |
特許 7553816 | 形状測定機及び形状測定機のアライメント方法 | 2024年 9月19日 | |
特許 7551321 | 加工装置 | 2024年 9月17日 | |
特許 7551534 | インターポレータを備えたレーザー干渉測長器及びインターポレート方法 | 2024年 9月17日 | |
特許 7551878 | ブラシ洗浄装置 | 2024年 9月17日 | |
特許 7545027 | ウェーハ加工方法及びシステム | 2024年 9月 4日 | |
特許 7545089 | 受け渡し位置調整方法 | 2024年 9月 4日 | |
特許 7544573 | マルチプローバ | 2024年 9月 3日 | |
特許 7544623 | 形状測定機の校正方法 | 2024年 9月 3日 | |
特許 7539620 | ワーク加工装置の制御装置及び制御方法並びにプログラム | 2024年 8月26日 | |
特許 7539624 | ウェハテストシステム及びプローバ | 2024年 8月26日 |
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7554985 7553810 7553811 7553812 7553815 7553816 7551321 7551534 7551878 7545027 7545089 7544573 7544623 7539620 7539624
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1月16日(木) -
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1月17日(金) -
1月17日(金) -
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1月14日(火) - 東京 港区
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