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株式会社日立ハイテクサイエンス
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■ 2016年 出願公開件数ランキング 第782位 38件
（
2015年：第771位 39件）
■ 2016年 特許取得件数ランキング 第808位 29件
（
2015年：第907位 23件）
（ランキング更新日：2025年8月25日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクサイエンスの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5952020 | ＴＥＭ試料作製方法 | 2016年 7月13日 | |
| 特許 5952046 | 複合荷電粒子ビーム装置 | 2016年 7月13日 | |
| 特許 5952048 | イオンビーム装置 | 2016年 7月13日 | |
| 特許 5941522 | イオンビーム装置 | 2016年 6月29日 | |
| 特許 5908964 | 複合集束イオンビーム装置 | 2016年 4月26日 | |
| 特許 5902485 | 走査型プローブ顕微鏡の探針形状評価方法 | 2016年 4月13日 | |
| 特許 5898454 | 集束イオンビーム装置 | 2016年 4月 6日 | |
| 特許 5889464 | 断面加工観察装置 | 2016年 3月22日 | |
| 特許 5878960 | 電子顕微鏡 | 2016年 3月 8日 | |
| 特許 5874995 | カンチレバーのバネ定数特定方法およびその方法を採用した走査型プローブ顕微鏡 | 2016年 3月 2日 | |
| 特許 5875403 | 透過Ｘ線分析装置 | 2016年 3月 2日 | |
| 特許 5872922 | 試料作製方法及び装置 | 2016年 3月 1日 | |
| 特許 5858702 | 複合荷電粒子ビーム装置 | 2016年 2月10日 | |
| 特許 5843951 | 熱分析装置 | 2016年 1月13日 |
29 件中 16-29 件を表示
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5952020 5952046 5952048 5941522 5908964 5902485 5898454 5889464 5878960 5874995 5875403 5872922 5858702 5843951
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