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株式会社ＳＵＭＣＯ

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　■　2011年特許取得件数ランキング　　　第419位　79件（2010年：第455位　62件）

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株式会社ＳＵＭＣＯの商標一覧

公報番号	発明の名称	公報発行日
特開 2011-258850	ボイドの検出方法および装置	2011年12月22日
特開 2011-253978	エピタキシャル基板およびその製造方法	2011年12月15日
特開 2011-253841	ウェーハ保持具	2011年12月15日
特開 2011-253896	キャリアプレート、複数のキャリアプレート、ウェーハの研磨装置、ウェーハの研磨方法	2011年12月15日
特開 2011-251270	シリコンスラッジの洗浄方法	2011年12月15日
特開 2011-249479	単結晶シリコンウェーハの評価方法	2011年12月 8日
特開 2011-246341	シリコン単結晶引き上げ装置及びシリコン単結晶の製造方法	2011年12月 8日
特開 2011-243914	スライス台のリサイクル方法及びスライス台	2011年12月 1日
特開 2011-243923	シリコンウェーハの製造方法	2011年12月 1日
特開 2011-243925	シリコンウェーハ評価方法およびそれを用いたシリコンウェーハ製造方法	2011年12月 1日
特開 2011-243899	シリコンウェーハの製造方法	2011年12月 1日
特開 2011-243784	ボロンドープｐ型シリコンウェーハの鉄濃度測定方法および測定装置、シリコンウェーハ、ならびにシリコンウェーハの製造方法	2011年12月 1日
特開 2011-243783	半導体ウェーハ評価方法、半導体ウェーハ評価用標準試料およびその作製方法	2011年12月 1日
特開 2011-237303	ウェーハ欠陥検査装置及びウェーハ欠陥検査方法	2011年11月24日
特開 2011-235371	ドレッシング装置および方法、並びにバンドソー切断機	2011年11月24日

221 件中 1-15 件を表示

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2011-258850 2011-253978 2011-253841 2011-253896 2011-251270 2011-249479 2011-246341 2011-243914 2011-243923 2011-243925 2011-243899 2011-243784 2011-243783 2011-237303 2011-235371

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