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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第195位 221件
(2010年:第150位 334件)
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第419位 79件
(2010年:第455位 62件)
(ランキング更新日:2025年5月30日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2011-44491 | エピタキシャルシリコンウェーハの製造方法 | 2011年 3月 3日 | |
特開 2011-44606 | エピタキシャルシリコンウェーハの製造方法 | 2011年 3月 3日 | |
特開 2011-42536 | エピタキシャルシリコンウェーハの製造方法 | 2011年 3月 3日 | |
特開 2011-44590 | シリコンウェーハの製造方法及び半導体デバイスの製造方法 | 2011年 3月 3日 | |
特開 2011-44470 | SOIウェーハの製造方法 | 2011年 3月 3日 | |
特開 2011-37681 | 結晶回転停止方法および結晶回転停止装置 | 2011年 2月24日 | |
特開 2011-37680 | 単結晶製造装置および単結晶製造方法 | 2011年 2月24日 | |
特開 2011-37678 | シリコン単結晶の製造方法並びにシリコンウェーハの製造方法およびエピタキシャルウェーハの製造方法 | 2011年 2月24日 | |
特開 2011-37667 | 単結晶製造装置および単結晶製造方法 | 2011年 2月24日 | |
特開 2011-35329 | 薄板収納容器、薄板保持具及び薄板取出方法 | 2011年 2月17日 | |
特開 2011-32150 | 回収された多結晶シリコンの再生方法 | 2011年 2月17日 | |
特開 2011-32136 | 液面高さレベル把握方法 | 2011年 2月17日 | |
特開 2011-32125 | シリコン単結晶製造装置用ルツボ保護シート、シリコン単結晶製造装置、およびシリコン単結晶製造方法 | 2011年 2月17日 | |
特開 2011-32106 | シリコン単結晶の製造方法 | 2011年 2月17日 | |
特開 2011-33449 | ウェーハの欠陥検査方法及び欠陥検査装置 | 2011年 2月17日 |
221 件中 166-180 件を表示
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2011-44491 2011-44606 2011-42536 2011-44590 2011-44470 2011-37681 2011-37680 2011-37678 2011-37667 2011-35329 2011-32150 2011-32136 2011-32125 2011-32106 2011-33449
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6月4日(水) -
6月4日(水) -
6月4日(水) -
6月5日(木) -
6月6日(金) -
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