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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第473位 74件 (2013年:第410位 100件)
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第336位 115件 (2013年:第439位 82件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2014-102929 | カソード、カソードの製造方法 | 2014年 6月 5日 | |
特開 2014-103308 | 荷電粒子ビーム描画装置及び荷電粒子ビームの照射量チェック方法 | 2014年 6月 5日 | |
特開 2014-93458 | 荷電粒子ビーム描画装置及び荷電粒子ビーム描画方法 | 2014年 5月19日 | |
特開 2014-89215 | 検査装置 | 2014年 5月15日 | |
特開 2014-89881 | カソード選別方法 | 2014年 5月15日 | |
特開 2014-85217 | 焦点位置検出装置、検査装置、焦点位置検出方法および検査方法 | 2014年 5月12日 | |
特開 2014-77732 | 検査装置および検査装置システム | 2014年 5月 1日 | |
特開 2014-75336 | 熱陰極、電子放射装置、及び熱陰極の製造方法 | 2014年 4月24日 | |
特開 2014-75520 | 荷電粒子ビーム描画装置 | 2014年 4月24日 | |
特開 2014-60194 | 荷電粒子ビーム描画装置及び荷電粒子ビーム描画方法 | 2014年 4月 3日 | |
特開 2014-55789 | パターン評価方法およびパターン評価装置 | 2014年 3月27日 | |
特開 2014-49545 | 荷電粒子ビーム描画方法及び荷電粒子ビーム描画装置 | 2014年 3月17日 | |
特開 2014-49690 | マスク描画装置、電子ビームの補正方法 | 2014年 3月17日 | |
特開 2014-45151 | セトリング時間の設定方法、荷電粒子ビーム描画方法、および荷電粒子ビーム描画装置 | 2014年 3月13日 | |
特開 2014-41862 | 荷電粒子ビーム補正方法および荷電粒子ビーム描画装置 | 2014年 3月 6日 |
74 件中 46-60 件を表示
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2014-102929 2014-103308 2014-93458 2014-89215 2014-89881 2014-85217 2014-77732 2014-75336 2014-75520 2014-60194 2014-55789 2014-49545 2014-49690 2014-45151 2014-41862
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2月4日(火) - 東京 港区
2月4日(火) - 神奈川 川崎市
2月4日(火) -
2月4日(火) -
2月5日(水) - 東京 港区
2月5日(水) -
2月5日(水) -
2月5日(水) -
2月6日(木) - 東京 港区
2月6日(木) -
2月7日(金) -
2月7日(金) - 東京 港区
2月7日(金) - 神奈川 横浜市
2月7日(金) -
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