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株式会社ニューフレアテクノロジー

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　■　2011年出願公開件数ランキング　　　第376位　103件（2010年：第347位　127件）

　■　2011年特許取得件数ランキング　　　第886位　31件（2010年：第2005位　9件）

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株式会社ニューフレアテクノロジーの商標一覧

公報番号	発明の名称	公報発行日
特開 2011-66036	荷電粒子ビーム描画方法及び荷電粒子ビーム描画装置	2011年 3月31日
特開 2011-66035	荷電粒子ビーム描画方法及び荷電粒子ビーム描画装置	2011年 3月31日
特開 2011-65899	電子銃用のエミッタ製造方法	2011年 3月31日
特開 2011-60804	荷電粒子ビーム描画装置、パターン検査装置およびレイアウト表示方法	2011年 3月24日
特開 2011-44464	荷電粒子ビーム描画装置、荷電粒子ビーム描画方法、および、荷電粒子ビーム描画用データの処理装置	2011年 3月 3日
特開 2011-44463	荷電粒子ビーム描画装置、荷電粒子ビーム描画方法、および、荷電粒子ビーム描画用データの処理装置	2011年 3月 3日
特開 2011-38149	成膜装置および成膜方法	2011年 2月24日
特開 2011-39013	検査装置および検査方法	2011年 2月24日
特開 2011-38830	検査装置および検査方法	2011年 2月24日
特開 2011-40614	荷電粒子ビーム描画装置、荷電粒子ビーム描画方法および振動成分抽出方法	2011年 2月24日
特開 2011-40694	荷電粒子ビーム描画装置および荷電粒子ビーム描画方法	2011年 2月24日
特開 2011-40680	荷電粒子ビーム描画装置及び荷電粒子ビーム描画方法	2011年 2月24日
特開 2011-40672	基板処理方法	2011年 2月24日
特開 2011-40466	荷電粒子ビーム描画装置、偏向器間のタイミング調整方法、及び偏向アンプの故障検出方法	2011年 2月24日
特開 2011-40450	荷電粒子ビーム描画装置及び荷電粒子ビーム描画方法	2011年 2月24日

103 件中 76-90 件を表示

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2011-66036 2011-66035 2011-65899 2011-60804 2011-44464 2011-44463 2011-38149 2011-39013 2011-38830 2011-40614 2011-40694 2011-40680 2011-40672 2011-40466 2011-40450

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