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エフ　イー　アイ　カンパニ

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　■　2023年特許取得件数ランキング　　　第1177位　18件（2022年：第1135位　19件）

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エフ　イー　アイ　カンパニの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特開 2023-51855	荷電粒子顕微鏡におけるデータ取得	2023年 4月11日
特開 2023-51863	反復断層撮影再構成の収束を加速するためのシステム及び方法	2023年 4月11日
特開 2023-51864	モジュール式超高真空電子顕微鏡	2023年 4月11日
特開 2023-12449	回折画像を生成するための方法およびシステム	2023年 1月25日
特開 2023-8871	時間ゲート検出、デュアルレイヤＳＰＡＤベースの電子検出	2023年 1月19日
特開 2023-8880	顕微鏡システムにおける画像ドリフトの低減	2023年 1月19日
特開 2023-8915	ダイナミックフォーカスのエネルギー分光計	2023年 1月19日
特開 2023-8918	荷電粒子顕微鏡における欠陥画素管理	2023年 1月19日
特開 2023-8921	ビームによる試料損傷を低減した走査型透過荷電粒子顕微鏡を使用して試料を調査する方法およびシステム	2023年 1月19日
特開 2023-8925	荷電粒子顕微鏡用リエントラント型ガスシステム	2023年 1月19日
特開 2023-8946	スペクトルデータから試料組成を決定するための方法およびシステム	2023年 1月19日
特開 2023-8969	クロマトグラムデータのための自動化されたピークおよびベースライン生成	2023年 1月19日
特開 2023-4942	三次元再構成のための荷電粒子顕微鏡スキャンマスキング	2023年 1月17日
特開 2023-4970	プロファイルされた領域を有するブロッティング材料、それを製造する方法、およびその使用方法	2023年 1月17日
特開 2023-4971	荷電粒子顕微鏡画像化における領域選択	2023年 1月17日

47 件中 31-45 件を表示

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2023-51855 2023-51863 2023-51864 2023-12449 2023-8871 2023-8880 2023-8915 2023-8918 2023-8921 2023-8925 2023-8946 2023-8969 2023-4942 2023-4970 2023-4971

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