ホーム > 特許ランキング > エフ イー アイ カンパニ > 2024年 > 出願公開一覧
エフ イー アイ カンパニ
※ ログインすれば出願人(エフ イー アイ カンパニ)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2024年 出願公開件数ランキング 第668位 40件
（
2023年：第628位 47件）
■ 2024年 特許取得件数ランキング 第720位 34件
（
2023年：第1177位 18件）
（ランキング更新日：2025年1月9日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2025年
エフ イー アイ カンパニの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2024-35180 | 荷電粒子顕微鏡デバイスのアプリケーション管理 | 2024年 3月13日 | |
| 特開 2024-35208 | 荷電粒子顕微鏡撮像のための自動選択及びモデル訓練 | 2024年 3月13日 | |
| 特開 2024-24615 | 電子撮像用途におけるセンサ保護のためのシステム | 2024年 2月22日 | |
| 特開 2024-23157 | ＳＥＭ用簡易球面収差補正器 | 2024年 2月21日 | |
| 特開 2024-23158 | 荷電粒子顕微鏡システム用の小型補正器モジュール及び荷電粒子システム | 2024年 2月21日 | |
| 特開 2024-23162 | 荷電粒子光学部品及びそれらの製作 | 2024年 2月21日 | |
| 特開 2024-22573 | 試料ホルダクランプ | 2024年 2月16日 | |
| 特開 2024-14836 | 荷電粒子顕微鏡を使用して試料を検査する方法 | 2024年 2月 1日 | |
| 特開 2024-2970 | 集束イオンビームシステム及び方法 | 2024年 1月11日 | |
| 特開 2024-1880 | 電子エミッタのためのマイクロロッドを生成する方法、並びに関連するマイクロロッド及び電子エミッタ | 2024年 1月10日 |
40 件中 31-40 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
2024-35180 2024-35208 2024-24615 2024-23157 2024-23158 2024-23162 2024-22573 2024-14836 2024-2970 2024-1880
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。エフ イー アイ カンパニの知財の動向チェックに便利です。
特許ランキング
1月9日(木) -
1月10日(金) -
1月11日(土) -
1月11日(土) -
1月9日(木) -
1月14日(火) - 東京 港区
1月15日(水) -
1月15日(水) - 東京 千代田区
1月15日(水) -
1月15日(水) -
1月16日(木) - 石川 金沢市
1月16日(木) -
1月17日(金) - 東京 渋谷区
1月17日(金) -
1月17日(金) -
1月18日(土) -
1月14日(火) - 東京 港区
特許事務所紹介 IP Force 特許事務所紹介
東京都千代田区岩本町2-19-9 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
愛知県小牧市小牧４丁目２２５番地２ 澤屋清七ビル３ ２０６ 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
〒140-0002 東京都品川区東品川2丁目2番24号 天王洲セントラルタワー２１Ｆ・２２Ｆ 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
