特許ランキング - 出願人詳細情報 -

エフ　イー　アイ　カンパニ

※ ログインすれば出願人(エフ　イー　アイ　カンパニ)をリストに登録できます。ログインについて

　■　2024年出願公開件数ランキング　　　第668位　40件（2023年：第628位　47件）

　■　2024年特許取得件数ランキング　　　第720位　34件（2023年：第1177位　18件）

（ランキング更新日：2025年1月9日）筆頭出願人である出願のみカウントしています

2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2025年

エフ　イー　アイ　カンパニの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特開 2024-96078	凝縮前駆体及び汚染物質パージ装置及び方法	2024年 7月11日
特開 2024-96079	荷電粒子顕微鏡法のためのファイバファブリペローキャビティレーザ位相板	2024年 7月11日
特開 2024-89653	高線量率における荷電粒子事象の検出	2024年 7月 3日
特開 2024-88618	電子顕微鏡撮像における改善された位相コントラストのための光キャビティを組み込んだ磁極片	2024年 7月 2日
特開 2024-86681	安全インターロックを備えたレーザ装置及びレーザ装置とともに使用する科学機器	2024年 6月27日
特開 2024-84725	ワイドバンドギャップ材料を含む荷電粒子センサ	2024年 6月25日
特開 2024-81738	顕微鏡画像のスマート計測	2024年 6月18日
特開 2024-81144	荷電粒子顕微鏡法を使用して試料を評価する方法	2024年 6月17日
特開 2024-79632	クライオ荷電粒子顕微鏡における分析のためのラメラを作成するために生体試料を微細加工する方法	2024年 6月11日
特開 2024-69161	ピクセル素子、それを含む粒子線顕微鏡、及び関連する方法	2024年 5月21日
特開 2024-68654	改善された冷却特性を有する極低温試料の調製方法	2024年 5月20日
特開 2024-59773	真空対応Ｘ線遮蔽体	2024年 5月 1日
特開 2024-56137	荷電粒子システムのための電力消費の低減	2024年 4月22日
特開 2024-52619	透過型電子顕微鏡のための自動データ取得方法	2024年 4月11日
特開 2024-52621	試料を移送するためのシステム及び方法	2024年 4月11日

40 件中 16-30 件を表示

※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。

このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー

2024-96078 2024-96079 2024-89653 2024-88618 2024-86681 2024-84725 2024-81738 2024-81144 2024-79632 2024-69161 2024-68654 2024-59773 2024-56137 2024-52619 2024-52621

※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。エフ　イー　アイ　カンパニの知財の動向チェックに便利です。

ログインについて

ランキング一覧に戻る

特許ランキング

2025年特許出願件数	2025年特許取得件数
2023年特許出願件数	2023年特許取得件数
2022年特許出願件数	2022年特許取得件数
2021年特許出願件数	2021年特許取得件数
2020年特許出願件数	2020年特許取得件数
2019年特許出願件数	2019年特許取得件数
2018年特許出願件数	2018年特許取得件数
2017年特許出願件数	2017年特許取得件数
2016年特許出願件数	2016年特許取得件数
2015年特許出願件数	2015年特許取得件数
2014年特許出願件数	2014年特許取得件数
2013年特許出願件数	2013年特許取得件数
2012年特許出願件数	2012年特許取得件数
2011年特許出願件数	2011年特許取得件数