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■ 2024年 出願公開件数ランキング 第1886位 11件 (2023年:第641位 46件)
■ 2024年 特許取得件数ランキング 第667位 37件 (2023年:第2186位 8件)
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特許 7481391 | 半導体素子、半導体構造、及び半導体素子の製造方法 | 2024年 5月10日 | |
特許 7476271 | 磁気トンネル接合装置及びその形成方法 | 2024年 4月30日 | |
特許 7457071 | 極端紫外線リソグラフィフォトマスクに用いられるフォトマスクペリクル及びその製造方法 | 2024年 3月27日 | |
特許 7444906 | イメージセンサを備えた半導体素子及びその形成方法 | 2024年 3月 6日 | |
特許 7444933 | 縦型電界効果トランジスタ及びその形成方法 | 2024年 3月 6日 | |
特許 7436530 | 集積回路チップ及びその形成方法 | 2024年 2月21日 | |
特許 7431288 | 極端紫外線リソグラフィマスク用のマスクペリクル及びその製造方法 | 2024年 2月14日 | |
特許 7430206 | イメージセンサ及びその製造方法 | 2024年 2月 9日 | |
特許 7425836 | 複合フォーク装置、それを含む集積回路製造システム、及びそれを用いた搬送方法 | 2024年 1月31日 | |
特許 7421619 | 磁気抵抗ランダムアクセスメモリ装置の外部磁場検出 | 2024年 1月24日 | |
特許 7420880 | スキップロジックを有するビット単位の積和累積 | 2024年 1月23日 | |
特許 7420906 | チップ特性測定方法、テスト装置及び非一時的コンピュータ可読媒体 | 2024年 1月23日 | |
特許 7417671 | 改善されたブレークダウン電圧を有する高電圧装置 | 2024年 1月18日 |
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7481391 7476271 7457071 7444906 7444933 7436530 7431288 7430206 7425836 7421619 7420880 7420906 7417671
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1月10日(金) -
1月11日(土) -
1月11日(土) -
1月9日(木) -
1月14日(火) - 東京 港区
1月15日(水) -
1月15日(水) - 東京 千代田区
1月15日(水) -
1月15日(水) -
1月16日(木) - 石川 金沢市
1月16日(木) -
1月17日(金) - 東京 渋谷区
1月17日(金) -
1月17日(金) -
1月18日(土) -
1月14日(火) - 東京 港区
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