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株式会社ＳＵＭＣＯ

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　■　2016年出願公開件数ランキング　　　第455位　76件（2015年：第570位　57件）

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株式会社ＳＵＭＣＯの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特開 2016-56086	単結晶の製造方法	2016年 4月21日
特開 2016-58424	結晶欠陥の評価方法及びウェーハの製造方法	2016年 4月21日
特開 2016-58641	ボロンドープｐ型シリコンウェーハの金属汚染評価方法および評価装置、ならびにボロンドープｐ型シリコンウェーハの製造方法	2016年 4月21日
特開 2016-51729	半導体エピタキシャルウェーハおよびその製造方法、ならびに、固体撮像素子の製造方法	2016年 4月11日
特開 2016-51763	シリコンウェーハの研磨方法	2016年 4月11日
特開 2016-36857	ワークの研磨方法およびワークの研磨装置	2016年 3月22日
特開 2016-30699	シリコン単結晶の製造方法	2016年 3月 7日
特開 2016-32035	エピタキシャルシリコンウェーハの製造方法	2016年 3月 7日
特開 2016-28249	シリカガラスルツボの気泡分布の三次元分布の決定方法、シリコン単結晶の製造方法	2016年 2月25日
特開 2016-23099	単結晶の製造方法及び製造装置	2016年 2月 8日
特開 2016-17866	ＤＮＡチップ及びその製造方法	2016年 2月 1日
特開 2016-17867	バイオチップ及びその製造方法	2016年 2月 1日
特開 2016-18822	半導体基板表面の有機物汚染評価方法およびその利用	2016年 2月 1日
特開 2016-18927	エピタキシャルシリコンウェーハおよびその製造方法	2016年 2月 1日
特開 2016-7664	研削装置および研削方法	2016年 1月18日

76 件中 61-75 件を表示

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2016-56086 2016-58424 2016-58641 2016-51729 2016-51763 2016-36857 2016-30699 2016-32035 2016-28249 2016-23099 2016-17866 2016-17867 2016-18822 2016-18927 2016-7664

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