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アンリツ株式会社

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  2024年 出願公開件数ランキング    第334位 97件 下降2023年:第310位 113件)

  2024年 特許取得件数ランキング    第292位 106件 下降2023年:第265位 129件)

(ランキング更新日:2025年1月9日)筆頭出願人である出願のみカウントしています

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公報番号発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)公報発行日備考
特開 2024-134239 誤り率測定装置及び誤り率測定方法 2024年10月 3日
特開 2024-134240 誤り率測定装置及び誤り率測定方法 2024年10月 3日
特開 2024-134241 誤り率測定装置及び誤り率測定方法 2024年10月 3日
特開 2024-134242 誤り率測定装置及び誤り率測定方法 2024年10月 3日
特開 2024-134243 任意波形発生装置及び任意波形発生方法 2024年10月 3日
特開 2024-134244 任意波形発生装置及び任意波形発生方法 2024年10月 3日
特開 2024-134525 誤り率測定装置及び誤り率測定方法 2024年10月 3日
特開 2024-130196 位相特性校正装置および位相特性校正方法 2024年 9月30日
特開 2024-130197 位相特性校正装置および位相特性校正方法 2024年 9月30日
特開 2024-129547 投入装置 2024年 9月27日
特開 2024-127263 高周波回路とその測定方法 2024年 9月20日
特開 2024-123796 パッケージと伝送路の接続構造 2024年 9月12日
特開 2024-123797 高周波モジュール 2024年 9月12日
特開 2024-115618 測定装置とそのNon-PSC接続方法 2024年 8月27日
特開 2024-114224 振分装置および物品検査システム 2024年 8月23日

97 件中 31-45 件を表示

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2024-134239 2024-134240 2024-134241 2024-134242 2024-134243 2024-134244 2024-134525 2024-130196 2024-130197 2024-129547 2024-127263 2024-123796 2024-123797 2024-115618 2024-114224

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