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アンリツ株式会社

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　■　2024年出願公開件数ランキング　　　第334位　97件（2023年：第310位　113件）

　■　2024年特許取得件数ランキング　　　第292位　106件（2023年：第265位　129件）

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アンリツ株式会社の商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特開 2024-145941	Ｘ線検査装置	2024年10月15日
特開 2024-145942	Ｘ線検査装置	2024年10月15日
特開 2024-142899	Ｘ線検査システムおよびそのキャリブレーション方法	2024年10月11日
特開 2024-142973	物品検査装置	2024年10月11日
特開 2024-142974	物品検査装置	2024年10月11日
特開 2024-142975	物品検査装置	2024年10月11日
特開 2024-142976	物品検査装置	2024年10月11日
特開 2024-138987	移動端末試験装置とその信号ロス値算出方法	2024年10月 9日
特開 2024-137103	信号発生方法および信号発生器	2024年10月 7日
特開 2024-135747	導波管フィルタ、これを用いるスペクトラムアナライザ、シグナルアナライザ、信号発生装置、及び導波管フィルタの制御方法	2024年10月 4日
特開 2024-133953	フィルタバンク回路、これを用いるスペクトラムアナライザ、シグナルアナライザ、信号発生装置、及びフィルタバンク回路の制御方法	2024年10月 3日
特開 2024-134210	誤り率測定装置及び誤り率測定方法	2024年10月 3日
特開 2024-134211	誤り率測定装置及び誤り率測定方法	2024年10月 3日
特開 2024-134212	誤り率測定装置及び誤り率測定方法	2024年10月 3日
特開 2024-134213	誤り率測定装置及び誤り率測定方法	2024年10月 3日

97 件中 16-30 件を表示

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2024-145941 2024-145942 2024-142899 2024-142973 2024-142974 2024-142975 2024-142976 2024-138987 2024-137103 2024-135747 2024-133953 2024-134210 2024-134211 2024-134212 2024-134213

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