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ケーエルエー−テンカー　コーポレイション

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ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特許 6158795	レーザパルスマルチプライヤを用いた半導体検査および計測システム	2017年 7月 5日
特許 6153596	スペクトルルミネセンス測定のための方法および装置	2017年 6月28日
特許 6141271	局所パージングによる大気分子汚染管理	2017年 6月 7日
特許 6141884	ウェハ検査用に拡張された欠陥のサイジング範囲	2017年 6月 7日
特許 6140075	構造の非対称特性の判定方法	2017年 5月31日
特許 6132838	照明制御	2017年 5月24日
特許 6129334	パルス照射を使用する移動画像の高速取得のための方法および装置	2017年 5月17日
特許 6131250	光ルミネセンス画像化を使用する発光半導体デバイスの検査の方法および装置	2017年 5月17日
特許 6131323	水を含むレーザー維持プラズマ管球	2017年 5月17日
特許 6125506	問題のある高度プロセス制御パラメータの検出及び訂正のための方法及びシステム	2017年 5月10日
特許 6127170	ウェハ上で検出された欠陥をビン範囲に従って分けるように構成されたシステム	2017年 5月10日
特許 6117115	生産ワークピースを処理するように構成されたワークピース処理ツール内のプロセス条件を測定するためのプロセス条件測定デバイス（ＰＣＭＤ）および方法	2017年 4月19日
特許 6117778	マルチコラム電子ビーム装置および方法	2017年 4月19日
特許 6113872	リングライト照明器およびリングライト照明器用のビームシェーパー	2017年 4月12日
特許 6099626	向上したプロセス制御のための品質測定値を提供するための方法およびシステム	2017年 3月22日

54 件中 31-45 件を表示

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6158795 6153596 6141271 6141884 6140075 6132838 6129334 6131250 6131323 6125506 6127170 6117115 6117778 6113872 6099626

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