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ケーエルエー−テンカー　コーポレイション

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ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特表 2018-530872	マルチビーム暗視野撮像	2018年10月18日
特表 2018-530911	自発的計測法及びパターン分類	2018年10月18日
特表 2018-530912	半導体ウエハ検査のためのイメージング性能を最適化する方法	2018年10月18日
特開 2018-163175	検出感度改善のための検査ビームの成形	2018年10月18日
特表 2018-529952	補助電磁場の導入に基づく１次スキャトロメトリオーバーレイでの新たなアプローチ	2018年10月11日
特表 2018-530116	レーザ維持プラズマ照明システム及び方法	2018年10月11日
特表 2018-530146	レーザ暗視野システムにおけるスペックル抑圧方法及び装置	2018年10月11日
特開 2018-160676	試験体の測定または分析のためのシステムおよび方法	2018年10月11日
特表 2018-529088	半導体マスク検査のためのポリゴンベースの幾何学的分類	2018年10月 4日
特表 2018-529188	電子源	2018年10月 4日
特表 2018-528568	高効率レーザー維持プラズマ光源	2018年 9月27日
特表 2018-528596	マルチビーム走査型電子顕微鏡におけるノイズ緩和方法及びシステム	2018年 9月27日
特開 2018-151672	フォトリソグラフィ用レチクルを検査するための検査システム及び方法	2018年 9月27日
特開 2018-152603	レーザのスペクトル帯域幅の低減	2018年 9月27日
特表 2018-527619	モデルベースの限界寸法測定の技術およびシステム	2018年 9月20日

103 件中 16-30 件を表示

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2018-530872 2018-530911 2018-530912 2018-163175 2018-529952 2018-530116 2018-530146 2018-160676 2018-529088 2018-529188 2018-528568 2018-528596 2018-151672 2018-152603 2018-527619

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