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ケーエルエー−テンカー　コーポレイション

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ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特開 2018-66743	照射サブシステム	2018年 4月26日
特表 2018-510376	オール反射ウェハ欠陥検査及びレビューシステム及び方法	2018年 4月12日
特表 2018-509741	像ビームの安定化及び識別性が改善された荷電粒子顕微システム及び方法	2018年 4月 5日
特表 2018-509752	焦点体積方法を用いたウェーハ検査	2018年 4月 5日
特表 2018-508936	レーザ維持プラズマ光源の放射性輻射を阻害するシステム及び方法	2018年 3月29日
特表 2018-508995	フォーカスエラー感応性が減少した光学的計測	2018年 3月29日
特開 2018-49840	プラズマセル内の対流を制御するための方法及びシステム	2018年 3月29日
特開 2018-49846	ホウ素層を有するシリコン基板を含むフォトカソード	2018年 3月29日
特表 2018-508125	歪んだウェハをチャッキングするための装置および方法	2018年 3月22日
特開 2018-46285	反射電子ビームリソグラフィ用リニアステージ	2018年 3月22日
特開 2018-41103	周波数変換結晶アニール方法	2018年 3月15日
特表 2018-506843	半導体検査及び度量衡用ラインスキャンナイフエッジ高さセンサ	2018年 3月 8日
特開 2018-37425	レーザ維持プラズマバルブのための気体屈折補償	2018年 3月 8日
特表 2018-506168	サンプリング及びフィーチャ選択を伴わない自動欠陥分類	2018年 3月 1日
特表 2018-505388	ウェハにおける臨界寸法問題及びパターン不良の干渉法を用いた予測及び制御	2018年 2月22日

103 件中 76-90 件を表示

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2018-66743 2018-510376 2018-509741 2018-509752 2018-508936 2018-508995 2018-49840 2018-49846 2018-508125 2018-46285 2018-41103 2018-506843 2018-37425 2018-506168 2018-505388

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