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ケーエルエー−テンカー　コーポレイション

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ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特許 7236535	画素アライメントのための補正ループを使用する欠陥位置判定	2023年 3月 9日
特許 7232895	クロマティック共焦点エリアセンサ	2023年 3月 3日
特許 7232896	複数通りの波長を用いる複数作動距離高さセンサ	2023年 3月 3日
特許 7232901	半導体ウェハフィーチャを製作するための方法	2023年 3月 3日
特許 7227992	表面形状由来のオーバーレイの分解分析および分解分析を用いたオーバーレイ制御の向上	2023年 2月22日
特許 7225388	計量ターゲット	2023年 2月20日
特許 7224321	高効率レーザー維持プラズマシステム	2023年 2月17日
特許 7219818	多波長インタフェロメトリによる欠陥分類	2023年 2月 8日
特許 7216784	電子ビーム装置	2023年 2月 1日
特許 7216822	画素レベル画像定量のための深層学習式欠陥検出及び分類方式の使用	2023年 2月 1日
特許 7210460	Ｘ線スキャトロメトリシステムのフルビーム計測	2023年 1月23日
特許 7210636	ウェハ検査システム	2023年 1月23日
特許 7203125	周波数変換照明源で以てレーザ維持プラズマをポンピングするシステム及び方法	2023年 1月12日
特許 7201662	分光計量を用いたパターン化膜スタックのバンドギャップ計測	2023年 1月10日
特許 7201731	光計測において照明を提供するためのシステム	2023年 1月10日

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7236535 7232895 7232896 7232901 7227992 7225388 7224321 7219818 7216784 7216822 7210460 7210636 7203125 7201662 7201731

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