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ケーエルエー−テンカー　コーポレイション

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ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特許 7296940	ハイパワーファイバ照明源用分光フィルタ	2023年 6月23日
特許 7289912	埋もれた欠陥の特性付けのためのシステムおよび方法	2023年 6月12日
特許 7288144	周期的半導体デバイス位置ずれ計量システム及び方法	2023年 6月 6日
特許 7284746	Ｘ線依拠計量用高輝度クリーンＸ線源	2023年 5月31日
特許 7284813	半導体基板の限界寸法測定のための深層学習ベースの適応関心領域	2023年 5月31日
特許 7282853	オーバレイ計測システムおよび方法	2023年 5月29日
特許 7273121	垂直スタックメモリにおいて欠陥深さを決定するための方法及びシステム	2023年 5月12日
特許 7271572	アレイ型特性解明ツール	2023年 5月11日
特許 7271642	円筒対称要素上を覆うターゲット素材を有するレーザ生成プラズマ光源	2023年 5月11日
特許 7269997	デュアルカラムパラレルＣＣＤセンサおよびセンサを用いた検査システム	2023年 5月 9日
特許 7270034	極紫外線フォトマスク上で検出される欠陥の処理	2023年 5月 9日
特許 7268031	機械学習を用いたレティクルの検査	2023年 5月 2日
特許 7268156	大量生産工程監視用に疎結合された検査及び計測システム	2023年 5月 2日
特許 7262423	ウエハレベル欠陥の転写性を予測する装置および方法	2023年 4月21日
特許 7258210	データ駆動型ミスレジストレーションパラメータ設定および測定システムおよび方法	2023年 4月14日

92 件中 46-60 件を表示

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7296940 7289912 7288144 7284746 7284813 7282853 7273121 7271572 7271642 7269997 7270034 7268031 7268156 7262423 7258210

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