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ケーエルエー−テンカー　コーポレイション

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ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特許 7344340	マルチカラム走査電子顕微鏡法システム	2023年 9月13日
特許 7333406	所望しない回折次数の存在下でのスキャトロメトリモデル化	2023年 8月24日
特許 7330260	ランプハウス補正を備えるプラズマ源	2023年 8月21日
特許 7329597	実験計画法および応答曲面モデルを使用するプロセス最適化	2023年 8月18日
特許 7329608	空間的に変化する偏光回転子および偏光子を用いた高感度粒子検出	2023年 8月18日
特許 7329609	紫外及び可視波長のプラズモニックフォトカソードエミッタ及び方法	2023年 8月18日
特許 7329637	電子ビームシステム及び方法	2023年 8月18日
特許 7319342	装置、方法及びプログラム	2023年 8月 1日
特許 7317849	リアルタイム測定制御のための方法およびシステム	2023年 7月31日
特許 7317131	結合された光および電子ビーム技術を使用する位置ずれ測定	2023年 7月28日
特許 7316274	先進的機械学習技術を通じた計測正確度の自動最適化	2023年 7月27日
特許 7309864	スキャトロメトリオーバレイのための効率的な照明成形	2023年 7月18日
特許 7308284	改善された計量用自己モアレ格子デザイン	2023年 7月13日
特許 7303868	位相解明光学及びＸ線半導体計量	2023年 7月 5日
特許 7303887	プロセス変動に対する計量感度を定量するためのスケーリング指標	2023年 7月 5日

92 件中 31-45 件を表示

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7344340 7333406 7330260 7329597 7329608 7329609 7329637 7319342 7317849 7317131 7316274 7309864 7308284 7303868 7303887

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