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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2016年 出願公開件数ランキング 第182位 243件
（
2015年：第107位 423件）
■ 2016年 特許取得件数ランキング 第89位 360件
（
2015年：第95位 287件）
（ランキング更新日：2025年8月25日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5932428 | 走査電子顕微鏡 | 2016年 6月 8日 | |
| 特許 5932540 | 自動分析装置 | 2016年 6月 8日 | |
| 特許 5932542 | 蛍光顕微鏡 | 2016年 6月 8日 | |
| 特許 5932599 | プラズマエッチング方法 | 2016年 6月 8日 | |
| 特許 5923632 | 荷電粒子線装置 | 2016年 5月25日 | |
| 特許 5924941 | プラズマ処理方法 | 2016年 5月25日 | |
| 特許 5925854 | 生体ポリマーの光学的解析装置及び方法 | 2016年 5月25日 | |
| 特許 5925931 | 検体検査自動化システム | 2016年 5月25日 | |
| 特許 5927010 | 検査装置 | 2016年 5月25日 | |
| 特許 5927067 | 計測検査装置、及び計測検査方法 | 2016年 5月25日 | |
| 特許 5927089 | 質量分析装置及び方法 | 2016年 5月25日 | |
| 特許 5921336 | 自動分析装置及び前処理装置 | 2016年 5月24日 | |
| 特許 5921580 | プラズマ処理方法 | 2016年 5月24日 | |
| 特許 5923270 | 検体処理システム | 2016年 5月24日 | |
| 特許 5923288 | 真空処理装置及び真空処理装置の運転方法 | 2016年 5月24日 |
362 件中 226-240 件を表示
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5932428 5932540 5932542 5932599 5923632 5924941 5925854 5925931 5927010 5927067 5927089 5921336 5921580 5923270 5923288
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