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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2016年 出願公開件数ランキング 第182位 243件
（
2015年：第107位 423件）
■ 2016年 特許取得件数ランキング 第89位 360件
（
2015年：第95位 287件）
（ランキング更新日：2024年12月3日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5953129 | 自動分析装置 | 2016年 7月20日 | |
| 特許 5953140 | 自動分析装置 | 2016年 7月20日 | |
| 特許 5953141 | 発光計測装置 | 2016年 7月20日 | |
| 特許 5953153 | 質量分析装置 | 2016年 7月20日 | |
| 特許 5953164 | データ処理装置及びそれを用いた自動分析装置 | 2016年 7月20日 | |
| 特許 5953177 | 試料ステージ及び荷電粒子装置 | 2016年 7月20日 | |
| 特許 5953314 | 走査電子顕微鏡 | 2016年 7月20日 | |
| 特許 5955934 | 血液凝固分析装置 | 2016年 7月20日 | |
| 特許 5950733 | 自動分析装置 | 2016年 7月13日 | |
| 特許 5950740 | 核酸増幅分析装置及び核酸増幅分析方法 | 2016年 7月13日 | |
| 特許 5951223 | 電子顕微法、電子顕微鏡および観察標体作製装置 | 2016年 7月13日 | |
| 特許 5951292 | 自動分析装置 | 2016年 7月13日 | |
| 特許 5952180 | 自動分析装置、プログラムおよび記録媒体ならびに検体の自動分析方法 | 2016年 7月13日 | |
| 特許 5946751 | 欠陥検出方法及びその装置並びに欠陥観察方法及びその装置 | 2016年 7月 6日 | |
| 特許 5946776 | 自動分析装置 | 2016年 7月 6日 |
362 件中 181-195 件を表示
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5953129 5953140 5953141 5953153 5953164 5953177 5953314 5955934 5950733 5950740 5951223 5951292 5952180 5946751 5946776
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