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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2016年 出願公開件数ランキング 第182位 243件
（
2015年：第107位 423件）
■ 2016年 特許取得件数ランキング 第89位 360件
（
2015年：第95位 287件）
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5947567 | 質量分析システム | 2016年 7月 6日 | |
| 特許 5948053 | 質量分析装置及び質量分析方法 | 2016年 7月 6日 | |
| 特許 5948074 | 画像形成装置及び寸法測定装置 | 2016年 7月 6日 | |
| 特許 5948083 | 走査電子顕微鏡 | 2016年 7月 6日 | |
| 特許 5948084 | 走査電子顕微鏡 | 2016年 7月 6日 | |
| 特許 5948138 | 欠陥解析支援装置、欠陥解析支援装置で実行されるプログラム、および欠陥解析システム | 2016年 7月 6日 | |
| 特許 5948173 | 自動分析装置及び自動分析方法 | 2016年 7月 6日 | |
| 特許 5948262 | 欠陥観察方法および欠陥観察装置 | 2016年 7月 6日 | |
| 特許 5948630 | 質量分析を用いた定量分析方法と定量分析装置 | 2016年 7月 6日 | |
| 特許 5943950 | イオンミリング装置 | 2016年 7月 5日 | |
| 特許 5944850 | 欠陥検査方法及びこれを用いた装置 | 2016年 7月 5日 | |
| 特許 5945126 | 欠陥検査方法および欠陥検査装置 | 2016年 7月 5日 | |
| 特許 5945245 | 信号パルス検出装置、質量分析装置、および信号パルス検出方法 | 2016年 7月 5日 | |
| 特許 5941692 | 自動分析装置 | 2016年 6月29日 | |
| 特許 5941704 | パターン寸法測定装置、及びコンピュータプログラム | 2016年 6月29日 |
362 件中 196-210 件を表示
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5947567 5948053 5948074 5948083 5948084 5948138 5948173 5948262 5948630 5943950 5944850 5945126 5945245 5941692 5941704
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