ホーム > 特許ランキング > 株式会社日立ハイテクノロジーズ > 2016年 > 特許一覧
株式会社日立ハイテクノロジーズ
※ ログインすれば出願人(株式会社日立ハイテクノロジーズ)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2016年 出願公開件数ランキング 第182位 243件
（
2015年：第107位 423件）
■ 2016年 特許取得件数ランキング 第89位 360件
（
2015年：第95位 287件）
（ランキング更新日：2025年8月25日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年
株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5941782 | マッチング処理装置、マッチング処理方法、及びそれを用いた検査装置 | 2016年 6月29日 | |
| 特許 5936361 | プラズマ処理装置 | 2016年 6月22日 | |
| 特許 5936424 | 荷電粒子線装置 | 2016年 6月22日 | |
| 特許 5936430 | 荷電粒子顕微鏡 | 2016年 6月22日 | |
| 特許 5936484 | 荷電粒子線装置及び試料観察方法 | 2016年 6月22日 | |
| 特許 5936497 | 荷電粒子線装置及び試料観察方法 | 2016年 6月22日 | |
| 特許 5937171 | 走査型電子顕微鏡及び試料観察方法 | 2016年 6月22日 | |
| 特許 5937878 | パターンマッチング方法及び装置 | 2016年 6月22日 | |
| 特許 5939833 | 自動分析装置 | 2016年 6月22日 | |
| 特許 5933985 | レシピ実行時間演算装置および半導体検査装置 | 2016年 6月15日 | |
| 特許 5934501 | 走査電子線装置およびそれを用いた寸法計測方法 | 2016年 6月15日 | |
| 特許 5930865 | 検出装置および生体試料分析装置 | 2016年 6月 8日 | |
| 特許 5930922 | 荷電粒子線装置及び試料観察方法 | 2016年 6月 8日 | |
| 特許 5931231 | 自動分析装置 | 2016年 6月 8日 | |
| 特許 5931535 | 検測車動揺状態補正方法及び装置、並びに検測方法及び装置 | 2016年 6月 8日 |
362 件中 211-225 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
5941782 5936361 5936424 5936430 5936484 5936497 5937171 5937878 5939833 5933985 5934501 5930865 5930922 5931231 5931535
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。株式会社日立ハイテクノロジーズの知財の動向チェックに便利です。
特許ランキング
9月1日(月) - 千葉 千葉市美浜区中瀬1丁目3番地
9月1日(月) - 東京 港区
特許庁：AI／DX時代に即した産業財産権制度について ～有識者委員会での議論を踏まえた、特許・意匠制度の見直しの方向性～
9月1日(月) -
9月2日(火) -
9月2日(火) -
9月2日(火) - 東京 港区
9月3日(水) -
9月3日(水) -
9月4日(木) - 大阪 大阪市
9月4日(木) -
9月4日(木) - 大阪 大阪市
9月5日(金) -
9月5日(金) -
9月6日(土) -
9月1日(月) - 千葉 千葉市美浜区中瀬1丁目3番地
9月10日(水) - 東京 港区
9月10日(水) -
9月11日(木) - 東京 江東区
9月11日(木) - 広島 広島
ますます頼りにされる商標担当者になるための３つのポイント ～ 社内の商標相談にサクサクと答えられるエッセンスを教えます ～
9月12日(金) -
9月12日(金) -
特許事務所紹介 IP Force 特許事務所紹介
〒500-8368 岐阜県 岐阜市 宇佐3丁目4番3号 4-3,Usa 3-Chome, Gifu-City, 500-8368 JAPAN 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
〒153-0061 東京都目黒区中目黒1-8-1VORT中目黒Ⅰ3階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
東京都外神田４－１４－２ 東京タイムズタワー２７０３号室 特許・実用新案 鑑定
