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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2016年 出願公開件数ランキング 第182位 243件
（
2015年：第107位 423件）
■ 2016年 特許取得件数ランキング 第89位 360件
（
2015年：第95位 287件）
（ランキング更新日：2025年8月25日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5967538 | 電子顕微鏡および電子線検出器 | 2016年 8月10日 | |
| 特許 5968131 | 電子顕微鏡および電子顕微鏡による画像形成方法 | 2016年 8月10日 | |
| 特許 5968775 | 磁気ディスク検査装置及び磁気ヘッド検査装置 | 2016年 8月10日 | |
| 特許 5965248 | 電解質分析装置 | 2016年 8月 3日 | |
| 特許 5958867 | 分光光度計 | 2016年 8月 2日 | |
| 特許 5959275 | プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 | 2016年 8月 2日 | |
| 特許 5959326 | 荷電粒子ビーム発生装置、荷電粒子線装置、高電圧発生装置、および高電位装置 | 2016年 8月 2日 | |
| 特許 5960421 | 細胞の測定方法及び細胞の測定用試薬 | 2016年 8月 2日 | |
| 特許 5961482 | 分光光度計 | 2016年 8月 2日 | |
| 特許 5961542 | 液体クロマトグラフ間におけるシステム変換のための制御データ送信方法 | 2016年 8月 2日 | |
| 特許 5957333 | マニュアルベースライン処理方法 | 2016年 7月27日 | |
| 特許 5957352 | 熱アシスト磁気ヘッド検査方法および熱アシスト磁気ヘッド検査装置 | 2016年 7月27日 | |
| 特許 5957357 | パターン検査・計測装置及びプログラム | 2016年 7月27日 | |
| 特許 5957378 | 欠陥観察方法および欠陥観察装置 | 2016年 7月27日 | |
| 特許 5953117 | パターン評価装置、及びコンピュータープログラム | 2016年 7月20日 |
362 件中 166-180 件を表示
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5967538 5968131 5968775 5965248 5958867 5959275 5959326 5960421 5961482 5961542 5957333 5957352 5957357 5957378 5953117
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