株式会社ＳＵＭＣＯ
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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第737位 41件
（
2013年：第585位 64件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第212位 189件
（
2013年：第276位 144件）
（ランキング更新日：2024年11月22日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社ＳＵＭＣＯの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5574534 | 複合ルツボ | 2014年 8月20日 | |
| 特許 5569392 | シリコンウェーハの製造方法 | 2014年 8月13日 | |
| 特許 5568837 | シリコン基板の製造方法 | 2014年 8月13日 | |
| 特許 5569190 | ウェーハチャージ補助台 | 2014年 8月13日 | |
| 特許 5564928 | ＤＬＴＳ測定用電極及びその製造方法 | 2014年 8月 6日 | |
| 特許 5565012 | エピタキシャルウェーハの評価方法及びエピタキシャルウェーハの製造方法 | 2014年 8月 6日 | |
| 特許 5565237 | ウェーハの欠陥検出方法 | 2014年 8月 6日 | |
| 特許 5564785 | 貼り合わせ基板の製造方法 | 2014年 8月 6日 | |
| 特許 5562518 | 石英ガラスルツボ製造装置の電極構造 | 2014年 7月30日 | 共同出願 |
| 特許 5560546 | シリコンウェーハ及びその製造方法 | 2014年 7月30日 | |
| 特許 5555995 | 貼り合わせシリコンウェーハの製造方法 | 2014年 7月23日 | |
| 特許 5556346 | ウェーハ欠陥検査装置及びウェーハ欠陥検査方法 | 2014年 7月23日 | |
| 特許 5556090 | ボロンドープｐ型シリコン中の鉄濃度分析における定量分析限界決定方法 | 2014年 7月23日 | |
| 特許 5549364 | ウェーハ欠陥検査装置及びウェーハ欠陥検査方法 | 2014年 7月16日 | |
| 特許 5549763 | 両面鏡面シリコンウェーハの研磨方法 | 2014年 7月16日 |
189 件中 31-45 件を表示
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5574534 5569392 5568837 5569190 5564928 5565012 5565237 5564785 5562518 5560546 5555995 5556346 5556090 5549364 5549763
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