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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第437位 89件
(2011年:第539位 67件)
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第478位 72件
(2011年:第817位 34件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
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特表 2012-504329 | 半導体部品を製造するためのマイクロリソグラフィ用の投影露光装置 | 2012年 2月16日 | |
特表 2012-504321 | EUVマイクロリソグラフィ用の投影露光装置の照明光学系に使用するための視野ファセットミラー | 2012年 2月16日 | |
特表 2012-504330 | 光学素子のための支持要素 | 2012年 2月16日 | |
特開 2012-28767 | マイクロリソグラフィ投影露光装置のための照明システム | 2012年 2月 9日 | |
特開 2012-28803 | 強度変化の補償を伴う投影系及びそのための補償素子 | 2012年 2月 9日 | |
特表 2012-503870 | 調整機能を最適化した投影露光装置 | 2012年 2月 9日 | |
特表 2012-503305 | 半導体リソグラフィのための投影露光装置における振動減衰方法 | 2012年 2月 2日 | |
特表 2012-503319 | 温度制御装置を有する光学アセンブリ | 2012年 2月 2日 | |
特表 2012-503318 | 反射光学素子とその製造方法 | 2012年 2月 2日 | |
特表 2012-502490 | 結像光学系 | 2012年 1月26日 | |
特表 2012-502454 | EUVリソグラフィ装置のための保護モジュール、およびEUVリソグラフィ装置 | 2012年 1月26日 | |
特開 2012-14180 | 少なくとも1つのシステム絞りを備えた光学結像装置 | 2012年 1月19日 | |
特開 2012-8574 | マイクロリソグラフィ投影光学系、ある機器を製造するための方法、光学面を設計する方法 | 2012年 1月12日 | |
特表 2012-501072 | EUVリソグラフィ装置およびEUVリソグラフィ装置における汚染物質の検出方法、 | 2012年 1月12日 |
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2012-504329 2012-504321 2012-504330 2012-28767 2012-28803 2012-503870 2012-503305 2012-503319 2012-503318 2012-502490 2012-502454 2012-14180 2012-8574 2012-501072
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2月22日(土) - 東京 板橋区
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2月25日(火) -
2月25日(火) -
2月26日(水) -
2月26日(水) -
2月26日(水) - 東京 港区
2月26日(水) -
2月26日(水) - 千葉 船橋市
2月27日(木) -
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 港区
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 千代田区
2月25日(火) -
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