特許ランキング - 出願人詳細情報 -

カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー

※ ログインすれば出願人(カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー)をリストに登録できます。ログインについて

　■　2024年出願公開件数ランキング　　　第471位　59件（2023年：第628位　47件）

　■　2024年特許取得件数ランキング　　　第515位　46件（2023年：第631位　40件）

（ランキング更新日：2024年11月22日）筆頭出願人である出願のみカウントしています

2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年

カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハーの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特表 2024-543141	フォトマスクに対する動作を較正するための方法および装置	2024年11月19日
特表 2024-542837	レンズ用のマウント、アセンブリ、リソグラフィシステム、および方法	2024年11月15日
特表 2024-542838	光学測定システムによる物体の照明および結像中の光学生成システムの照明および結像特性をシミュレートするための瞳絞り形状を最適化するための方法	2024年11月15日
特表 2024-541842	マルチミラーアレイ	2024年11月13日
特表 2024-541956	トポグラフィ情報を提供するための高解像度低エネルギー電子顕微鏡およびマスク検査方法	2024年11月13日
特開 2024-155892	ＥＵＶマイクロリソグラフィ用のフォトマスクを検査するための測定デバイスおよび方法	2024年10月31日
特開 2024-155893	ＥＵＶマイクロリソグラフィ用のフォトマスクを検査するための測定装置および方法	2024年10月31日
特開 2024-153619	ＥＵＶリソグラフィ用マスクを検査するためのシステムおよび方法	2024年10月29日
特開 2024-153689	リソグラフィマスクの欠陥を修復する方法および装置	2024年10月29日
特開 2024-150447	破壊的干渉によって少なくとも１つの目標波長を抑制するための光回折構成要素	2024年10月23日
特開 2024-150511	測定又は検査装置及び表面を測定又は検査する方法	2024年10月23日
特開 2024-150524	ＶＵＶ放射線を反射する光学素子及び光学装置	2024年10月23日
特表 2024-538115	ＥＵＶマルチミラー装置	2024年10月18日
特開 2024-147572	マイクロリソグラフィフォトマスクの欠陥の粒子ビーム誘起処理のための方法	2024年10月16日
特表 2024-537351	試料を測定するための方法および本方法を実施する顕微鏡	2024年10月10日

59 件中 1-15 件を表示

※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。

このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー

2024-543141 2024-542837 2024-542838 2024-541842 2024-541956 2024-155892 2024-155893 2024-153619 2024-153689 2024-150447 2024-150511 2024-150524 2024-538115 2024-147572 2024-537351

※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハーの知財の動向チェックに便利です。

ログインについて

ランキング一覧に戻る

特許ランキング

2023年特許出願件数	2023年特許取得件数
2022年特許出願件数	2022年特許取得件数
2021年特許出願件数	2021年特許取得件数
2020年特許出願件数	2020年特許取得件数
2019年特許出願件数	2019年特許取得件数
2018年特許出願件数	2018年特許取得件数
2017年特許出願件数	2017年特許取得件数
2016年特許出願件数	2016年特許取得件数
2015年特許出願件数	2015年特許取得件数
2014年特許出願件数	2014年特許取得件数
2013年特許出願件数	2013年特許取得件数
2012年特許出願件数	2012年特許取得件数
2011年特許出願件数	2011年特許取得件数