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カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー
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■ 2025年 出願公開件数ランキング 第744位 5件
（
2024年：第485位 63件）
■ 2025年 特許取得件数ランキング 第6849位 0件
（2024年：第517位 51件）
（ランキング更新日：2025年2月21日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハーの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特表 2025-505290 | フォトニック集積回路をテストするための装置、テストカードおよび方法、ならびにフォトニック集積回路 | 2025年 2月21日 | |
| 特表 2025-504235 | 半導体試料を層ごとに検査するための方法およびそのような方法を実行するための検査装置 | 2025年 2月 6日 | |
| 特表 2025-503702 | 物体の照明および結像中の光学生産システムの照明および結像特性を光学測定システムによってシミュレートするための方法 | 2025年 2月 4日 | |
| 特表 2025-501494 | 少なくとも１つの中空構造を作製する方法及び装置、ミラー、ＥＵＶリソグラフィシステム、流体供給装置、及び流体を供給する方法 | 2025年 1月22日 | |
| 特開 2025-558 | マイクロリソグラフィ微細構造試料の像を分析するための方法およびデバイス | 2025年 1月 7日 |
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2025-505290 2025-504235 2025-503702 2025-501494 2025-558
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2月21日(金) - 東京 千代田区
2月21日(金) - 東京 大田
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2月25日(火) -
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2月26日(水) - 東京 港区
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2月27日(木) -
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 港区
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 千代田区
2月25日(火) -
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