ホーム > 特許ランキング > 株式会社ニューフレアテクノロジー > 2011年 > 特許一覧
※ ログインすれば出願人(株式会社ニューフレアテクノロジー)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2011年 出願公開件数ランキング 第376位 103件 (2010年:第347位 127件)
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第886位 31件 (2010年:第2005位 9件)
(ランキング更新日:2025年1月20日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年
公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 4758829 | 荷電ビーム描画装置および描画方法 | 2011年 8月31日 | |
特許 4751273 | 描画装置の描画エラー検証方法及び描画装置の描画エラー検証用データの作成装置 | 2011年 8月17日 | |
特許 4751353 | データ検証方法及び荷電粒子ビーム描画装置 | 2011年 8月17日 | |
特許 4747112 | パターン形成方法及び荷電粒子ビーム描画装置 | 2011年 8月17日 | |
特許 4745089 | 荷電粒子ビーム描画方法、描画データ作成方法及びプログラム | 2011年 8月10日 | |
特許 4745268 | 荷電粒子ビーム描画システム | 2011年 8月10日 | |
特許 4746928 | 描画方法、描画装置及び電子ビーム描画における電子ビームの加速電圧値取得方法 | 2011年 8月10日 | |
特許 4728042 | マスクパターン作成方法 | 2011年 7月20日 | |
特許 4714591 | パターン面積値算出方法、近接効果補正方法及び荷電粒子ビーム描画方法 | 2011年 6月29日 | |
特許 4695934 | エピタキシャル成長装置 | 2011年 6月 8日 | |
特許 4695942 | データの検証方法 | 2011年 6月 8日 | |
特許 4690597 | 燃焼式除害装置 | 2011年 6月 1日 | |
特許 4676461 | 電子ビーム描画装置及び電子ビームの電流密度調整方法 | 2011年 4月27日 | |
特許 4650813 | レチクル欠陥検査装置およびレチクル欠陥検査方法 | 2011年 3月16日 | 共同出願 |
特許 4634992 | 位置計測装置及び位置ずれ量計測方法 | 2011年 2月16日 |
31 件中 16-30 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
4758829 4751273 4751353 4747112 4745089 4745268 4746928 4728042 4714591 4695934 4695942 4690597 4676461 4650813 4634992
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。株式会社ニューフレアテクノロジーの知財の動向チェックに便利です。
1月20日(月) -
1月20日(月) - 大阪 大阪市
1月21日(火) -
1月21日(火) -
1月21日(火) - 東京 港区
1月21日(火) - 大阪 大阪市
1月22日(水) - 東京 港区
1月22日(水) -
1月22日(水) -
1月22日(水) - 大阪 大阪市
1月22日(水) - 東京 千代田区
1月22日(水) -
1月22日(水) -
1月22日(水) -
1月23日(木) -
1月23日(木) -
1月23日(木) - 東京 港区
1月23日(木) -
1月23日(木) -
1月23日(木) -
1月23日(木) -
1月24日(金) - 東京 港区
1月24日(金) - 東京 千代田区
1月24日(金) -
1月24日(金) - 東京 千代田区
1月24日(金) - 大阪 大阪市
1月24日(金) - 神奈川 川崎市
1月24日(金) - 東京 千代田区
1月20日(月) -
1月27日(月) - 東京 港区
1月28日(火) - 東京 港区
1月28日(火) -
1月28日(火) -
1月28日(火) -
1月28日(火) - 大阪 大阪市
1月29日(水) - 東京 港区
1月29日(水) - 東京 港区
1月29日(水) - 東京 品川区
1月29日(水) -
1月29日(水) -
1月29日(水) -
1月30日(木) -
1月30日(木) -
1月30日(木) -
1月30日(木) - 東京 港区
1月31日(金) -
1月27日(月) - 東京 港区
京都市伏見区深草大亀谷万帖敷町446-2 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
名古屋本部オフィス 〒450-0002 愛知県名古屋市中村区名駅3-13-24 第一はせ川ビル6F http://aigipat.com/ 岐阜オフィス 〒509-0124 岐阜県各務原市鵜沼山崎町3丁目146番地1 PACビル2階(旧横山ビル) http://gifu.aigipat.com/ 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
東京都港区北青山2丁目7番20号 第二猪瀬ビル3F 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング