ホーム > 特許ランキング > 株式会社ニューフレアテクノロジー > 2021年 > 特許一覧
※ ログインすれば出願人(株式会社ニューフレアテクノロジー)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2021年 出願公開件数ランキング 第595位 53件
(2020年:第433位 79件)
■ 2021年 特許取得件数ランキング 第483位 50件
(2020年:第402位 64件)
(ランキング更新日:2025年2月14日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2022年 2023年 2024年 2025年
公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 6981811 | パターン検査装置及びパターン検査方法 | 2021年12月17日 | |
特許 6982992 | 導通接点針 | 2021年12月17日 | |
特許 6980511 | 半導体装置の製造方法 | 2021年12月15日 | |
特許 6980631 | 検査方法および検査装置 | 2021年12月15日 | |
特許 6981170 | 荷電粒子ビーム描画装置及び荷電粒子ビーム描画方法 | 2021年12月15日 | |
特許 6981380 | 荷電粒子ビーム描画装置及び荷電粒子ビーム描画方法 | 2021年12月15日 | |
特許 6977528 | マルチビーム用アパーチャセット | 2021年12月 8日 | |
特許 6966317 | カソード | 2021年11月17日 | |
特許 6966319 | マルチビーム画像取得装置及びマルチビーム画像取得方法 | 2021年11月17日 | |
特許 6966342 | 荷電粒子ビーム描画方法及び荷電粒子ビーム描画装置 | 2021年11月17日 | |
特許 6967403 | 気相成長方法 | 2021年11月17日 | |
特許 6966255 | 画像取得装置の光学系調整方法 | 2021年11月10日 | |
特許 6962255 | アパーチャ部材及びマルチ荷電粒子ビーム描画装置 | 2021年11月 5日 | |
特許 6957998 | マルチ荷電粒子ビーム描画装置及びマルチ荷電粒子ビーム調整方法 | 2021年11月 2日 | |
特許 6953276 | 描画装置およびその制御方法 | 2021年10月27日 |
51 件中 1-15 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
6981811 6982992 6980511 6980631 6981170 6981380 6977528 6966317 6966319 6966342 6967403 6966255 6962255 6957998 6953276
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。株式会社ニューフレアテクノロジーの知財の動向チェックに便利です。
2月17日(月) - 大阪 大阪市
(オンライン参加可)体験談から学ぶ知的財産権 その時どうする?~海外で商標権がバッティング?オープンファクトリーの知財リスク?~
2月18日(火) -
2月19日(水) - 東京 港区
2月19日(水) -
2月19日(水) -
2月19日(水) -
2月19日(水) -
2月19日(水) -
2月19日(水) -
2月19日(水) -
2月20日(木) - 東京 港区
2月20日(木) -
2月20日(木) -
2月20日(木) - 東京 千代田区
2月21日(金) - 東京 千代田区
2月21日(金) - 東京 大田
パテントマップを用いた知財戦略の策定方法 -自社が勝つパテントマップ作成と それを活用した開発戦略・知財戦略の実践方法- <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
2月21日(金) -
2月22日(土) - 東京 板橋区
2月17日(月) - 大阪 大阪市
(オンライン参加可)体験談から学ぶ知的財産権 その時どうする?~海外で商標権がバッティング?オープンファクトリーの知財リスク?~
2月25日(火) -
2月25日(火) -
2月26日(水) -
2月26日(水) -
2月26日(水) - 東京 港区
2月26日(水) -
2月26日(水) - 千葉 船橋市
2月27日(木) -
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 港区
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 千代田区
2月25日(火) -
愛知県名古屋市中区平和一丁目15-30 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
東京都武蔵野市吉祥寺本町1丁目35-14-202 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 鑑定 コンサルティング
〒141-0031 東京都品川区西五反田3-6-20 いちご西五反田ビル8F 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング