ホーム > 特許ランキング > 株式会社ニューフレアテクノロジー > 2016年 > 特許一覧
株式会社ニューフレアテクノロジー
※ ログインすれば出願人(株式会社ニューフレアテクノロジー)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2016年 出願公開件数ランキング 第354位 106件
（
2015年：第475位 70件）
■ 2016年 特許取得件数ランキング 第493位 56件
（
2015年：第385位 67件）
（ランキング更新日：2025年4月4日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年
株式会社ニューフレアテクノロジーの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6047418 | 検査方法および検査装置 | 2016年12月21日 | |
| 特許 6042158 | マルチ荷電粒子ビーム描画装置及びマルチ荷電粒子ビーム描画方法 | 2016年12月14日 | |
| 特許 6043125 | セトリング時間の取得方法 | 2016年12月14日 | |
| 特許 6043583 | 焦点位置検出装置、検査装置、焦点位置検出方法および検査方法 | 2016年12月14日 | |
| 特許 6043662 | 検査方法および検査装置 | 2016年12月14日 | |
| 特許 6038618 | 成膜装置および成膜方法 | 2016年12月 7日 | |
| 特許 6039970 | セトリング時間の設定方法、荷電粒子ビーム描画方法、および荷電粒子ビーム描画装置 | 2016年12月 7日 | |
| 特許 6040046 | 荷電粒子ビーム描画装置、および荷電粒子ビーム描画方法 | 2016年12月 7日 | |
| 特許 6025419 | 検査方法および検査装置 | 2016年11月16日 | |
| 特許 6025489 | 検査装置および検査装置システム | 2016年11月16日 | |
| 特許 6026333 | 成膜装置および成膜方法 | 2016年11月16日 | |
| 特許 6027798 | 荷電粒子ビーム描画装置及び多重描画用の荷電粒子ビームの照射時間振り分け方法 | 2016年11月16日 | |
| 特許 6018811 | ドリフト補正方法および描画データの作成方法 | 2016年11月 2日 | |
| 特許 6018929 | 検査方法 | 2016年11月 2日 | |
| 特許 6013089 | 荷電粒子ビーム描画方法及び荷電粒子ビーム描画装置 | 2016年10月25日 |
56 件中 1-15 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
6047418 6042158 6043125 6043583 6043662 6038618 6039970 6040046 6025419 6025489 6026333 6027798 6018811 6018929 6013089
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。株式会社ニューフレアテクノロジーの知財の動向チェックに便利です。
特許ランキング
4月4日(金) -
4月4日(金) -
4月9日(水) -
4月9日(水) -
4月10日(木) - 東京 港区赤坂3-9-1 紀陽ビル4階
【セミナー｜知財業界で働くなら知っておくべき】知財部長と代表弁理士が伝える、知財部と事務所の違いとは〈4/10(木)19時～〉
4月11日(金) -
特許事務所紹介 IP Force 特許事務所紹介
659-0068 兵庫県芦屋市業平町４－１ イム・エメロードビル５０３ 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
東京都新宿区四谷2-12-5 四谷ISYビル3階 PDI特許商標事務所内 特許・実用新案 訴訟 鑑定 コンサルティング
京都市伏見区深草大亀谷万帖敷町４４６－２ 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
