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■ 2021年 出願公開件数ランキング 第33位 878件
(2020年:第43位 773件)
■ 2021年 特許取得件数ランキング 第45位 515件
(2020年:第54位 436件)
(ランキング更新日:2025年2月21日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2021-58883 | 液滴吐出装置 | 2021年 4月15日 | |
特開 2021-60276 | 温度計測システム及び温度計測方法 | 2021年 4月15日 | |
特開 2021-60322 | リーク測定システム、半導体製造システム及びリーク測定方法 | 2021年 4月15日 | |
特開 2021-61203 | プラズマ処理装置及び天壁 | 2021年 4月15日 | |
特開 2021-61297 | 基板支持台、及びプラズマ処理装置 | 2021年 4月15日 | |
特開 2021-61348 | 基板処理方法及び基板処理装置 | 2021年 4月15日 | |
特開 2021-61349 | 制御装置、処理装置及び制御方法 | 2021年 4月15日 | |
特開 2021-61362 | 洗浄装置、基板処理装置および異常判断方法 | 2021年 4月15日 | |
特開 2021-61380 | クリーニング条件の決定方法及びプラズマ処理装置 | 2021年 4月15日 | |
特開 2021-61390 | プラズマ処理装置 | 2021年 4月15日 | |
特開 2021-61415 | ピック、搬送装置及びプラズマ処理システム | 2021年 4月15日 | |
特開 2021-57191 | 基板処理装置及び基板処理方法 | 2021年 4月 8日 | |
特開 2021-57402 | 基板を処理する装置及びステージをクリーニングする方法 | 2021年 4月 8日 | |
特開 2021-57405 | 成膜装置及び成膜装置の運用方法 | 2021年 4月 8日 | |
特開 2021-57411 | 基板処理方法および基板処理装置 | 2021年 4月 8日 |
882 件中 601-615 件を表示
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2021-58883 2021-60276 2021-60322 2021-61203 2021-61297 2021-61348 2021-61349 2021-61362 2021-61380 2021-61390 2021-61415 2021-57191 2021-57402 2021-57405 2021-57411
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2月21日(金) - 東京 千代田区
2月21日(金) - 東京 大田
パテントマップを用いた知財戦略の策定方法 -自社が勝つパテントマップ作成と それを活用した開発戦略・知財戦略の実践方法- <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
2月21日(金) -
2月22日(土) - 東京 板橋区
2月21日(金) - 東京 千代田区
2月25日(火) -
2月25日(火) -
2月26日(水) -
2月26日(水) -
2月26日(水) - 東京 港区
2月26日(水) -
2月26日(水) - 千葉 船橋市
2月27日(木) -
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 港区
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 千代田区
2月25日(火) -
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