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■ 2016年 出願公開件数ランキング 第354位 106件
(2015年:第475位 70件)
■ 2016年 特許取得件数ランキング 第493位 56件
(2015年:第385位 67件)
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2016-157968 | 荷電粒子ビーム描画装置 | 2016年 9月 1日 | |
特開 2016-152251 | 電子ビーム描画装置のカソードの寿命予測方法 | 2016年 8月22日 | |
特開 2016-152387 | 電子線描画装置 | 2016年 8月22日 | |
特開 2016-148701 | 位置測定装置および位置測定方法 | 2016年 8月18日 | |
特開 2016-148747 | 画像作成方法、検査方法および画像作成装置 | 2016年 8月18日 | |
特開 2016-149400 | 荷電粒子ビーム描画装置の評価方法 | 2016年 8月18日 | |
特開 2016-145887 | 検査装置および検査方法 | 2016年 8月12日 | |
特開 2016-143442 | ヒータの製造方法およびヒータ | 2016年 8月 8日 | |
特開 2016-133393 | 欠陥検査装置 | 2016年 7月25日 | |
特開 2016-133613 | パターン検査方法 | 2016年 7月25日 | |
特開 2016-134486 | マルチ荷電粒子ビーム像の回転角測定方法、マルチ荷電粒子ビーム像の回転角調整方法、及びマルチ荷電粒子ビーム描画装置 | 2016年 7月25日 | |
特開 2016-134555 | マルチビームの電流量測定方法及びマルチ荷電粒子ビーム描画装置 | 2016年 7月25日 | |
特開 2016-134567 | エネルギービーム描画装置の描画データ作成方法 | 2016年 7月25日 | |
特開 2016-129165 | 荷電粒子ビーム描画装置 | 2016年 7月14日 | |
特開 2016-126302 | 検査装置および検査方法 | 2016年 7月11日 |
107 件中 31-45 件を表示
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2016-157968 2016-152251 2016-152387 2016-148701 2016-148747 2016-149400 2016-145887 2016-143442 2016-133393 2016-133613 2016-134486 2016-134555 2016-134567 2016-129165 2016-126302
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2月20日(木) -
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2月20日(木) - 東京 千代田区
2月21日(金) - 東京 千代田区
2月21日(金) - 東京 大田
パテントマップを用いた知財戦略の策定方法 -自社が勝つパテントマップ作成と それを活用した開発戦略・知財戦略の実践方法- <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
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2月27日(木) - 東京 港区
2月27日(木) -
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