日本電子株式会社
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■ 2018年 出願公開件数ランキング 第451位 73件
（
2017年：第557位 66件）
■ 2018年 特許取得件数ランキング 第455位 57件
（2017年：第563位 44件）
（ランキング更新日：2025年4月15日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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日本電子株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6283563 | 収差計算装置、収差計算方法、画像処理装置、画像処理方法、および電子顕微鏡 | 2018年 2月21日 | |
| 特許 6273578 | ３次元積層造形装置及び３次元積層造形方法 | 2018年 2月 7日 | |
| 特許 6276077 | 透過電子顕微鏡および透過電子顕微鏡像の表示方法 | 2018年 2月 7日 | |
| 特許 6276091 | ３次元積層造形装置に用いられるブラスト装置 | 2018年 2月 7日 | |
| 特許 6276101 | 多極子レンズ、収差補正装置、および電子顕微鏡 | 2018年 2月 7日 | |
| 特許 6276141 | 放射線分析装置 | 2018年 2月 7日 | |
| 特許 6268402 | 磁気共鳴測定装置 | 2018年 1月31日 | |
| 特許 6266312 | 集束イオンビーム装置及びイオンビームの焦点調整方法 | 2018年 1月24日 | |
| 特許 6266467 | 電子顕微鏡、およびモノクロメーターの調整方法 | 2018年 1月24日 | |
| 特許 6266471 | 流体循環装置および荷電粒子線装置 | 2018年 1月24日 | |
| 特許 6258739 | ３次元積層造形装置及び３次元積層造形方法 | 2018年 1月10日 | |
| 特許 6258803 | ライブタイム信号合成回路、ライブタイム信号合成方法、放射線検出装置、および試料分析装置 | 2018年 1月10日 | |
| 特許 6258826 | 試料作製装置 | 2018年 1月10日 | |
| 特許 6258833 | 電子顕微鏡観察窓用の遮光器および電子顕微鏡 | 2018年 1月10日 |
59 件中 46-59 件を表示
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6283563 6273578 6276077 6276091 6276101 6276141 6268402 6266312 6266467 6266471 6258739 6258803 6258826 6258833
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