日本電子株式会社
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■ 2018年 出願公開件数ランキング 第451位 73件
（
2017年：第557位 66件）
■ 2018年 特許取得件数ランキング 第455位 57件
（2017年：第563位 44件）
（ランキング更新日：2025年8月25日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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日本電子株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6326341 | 試料ホルダー、および電子顕微鏡 | 2018年 5月16日 | |
| 特許 6326346 | 発光計測装置、および自動分析装置 | 2018年 5月16日 | |
| 特許 6326347 | ライブタイム比演算回路、ライブタイム比演算方法、放射線検出装置、および試料分析装置 | 2018年 5月16日 | |
| 特許 6326352 | 試料ホルダー、試料作製装置、および位置合わせ方法 | 2018年 5月16日 | |
| 特許 6326380 | 多極子レンズおよび荷電粒子ビーム装置 | 2018年 5月16日 | |
| 特許 6312313 | 自動分析装置及び自動分析方法 | 2018年 4月18日 | |
| 特許 6310767 | 自動分析装置及びノズル洗浄方法 | 2018年 4月11日 | |
| 特許 6304761 | 磁気共鳴測定装置 | 2018年 4月 4日 | |
| 特許 6301796 | 有機化合物除去装置 | 2018年 3月28日 | |
| 特許 6283868 | 磁気共鳴測定装置 | 2018年 2月28日 | |
| 特許 6285735 | 質量分析装置 | 2018年 2月28日 | |
| 特許 6285753 | 透過電子顕微鏡 | 2018年 2月28日 | |
| 特許 6283526 | 荷電粒子線装置 | 2018年 2月21日 | |
| 特許 6283539 | ３次元積層造形装置及び３次元積層造形方法 | 2018年 2月21日 | |
| 特許 6283554 | 三次元積層造形装置 | 2018年 2月21日 |
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6326341 6326346 6326347 6326352 6326380 6312313 6310767 6304761 6301796 6283868 6285735 6285753 6283526 6283539 6283554
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