日本電子株式会社
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■ 2021年 出願公開件数ランキング 第446位 77件
（
2020年：第450位 75件）
■ 2021年 特許取得件数ランキング 第250位 116件
（2020年：第420位 61件）
（ランキング更新日：2025年6月30日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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日本電子株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6905703 | ｓ−ｃｉｓ−ジエンを有する化合物の誘導体化法、誘導体化試薬キット、および分析方法 | 2021年 7月21日 | |
| 特許 6901328 | 間接加熱蒸着源 | 2021年 7月14日 | |
| 特許 6901337 | 表面分析装置および試料の高さ合わせ方法 | 2021年 7月14日 | |
| 特許 6901374 | 荷電粒子ビーム描画装置 | 2021年 7月14日 | |
| 特許 6901376 | 質量分析用データ処理装置及び質量分析用データ処理方法 | 2021年 7月14日 | |
| 特許 6901460 | 走査電子顕微鏡および画像処理方法 | 2021年 7月14日 | |
| 特許 6901461 | 真空冷却装置及びイオンミリング装置 | 2021年 7月14日 | |
| 特許 6901510 | 観察方法、画像処理装置、および電子顕微鏡 | 2021年 7月14日 | |
| 特許 6901518 | 荷電粒子線装置および荷電粒子線装置の光学系の制御方法 | 2021年 7月14日 | |
| 特許 6895344 | 荷電粒子線装置 | 2021年 6月30日 | |
| 特許 6887845 | 核磁気共鳴装置 | 2021年 6月16日 | |
| 特許 6887880 | 自動分析装置及びプログラム | 2021年 6月16日 | |
| 特許 6887896 | ３次元積層造形装置 | 2021年 6月16日 | |
| 特許 6887926 | 三次元構造体の製造方法および三次元構造体の製造装置 | 2021年 6月16日 | |
| 特許 6887935 | データ処理装置及びデータ処理方法 | 2021年 6月16日 |
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6905703 6901328 6901337 6901374 6901376 6901460 6901461 6901510 6901518 6895344 6887845 6887880 6887896 6887926 6887935
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