日本電子株式会社
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■ 2021年 出願公開件数ランキング 第446位 77件
（
2020年：第450位 75件）
■ 2021年 特許取得件数ランキング 第250位 116件
（2020年：第420位 61件）
（ランキング更新日：2025年6月27日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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日本電子株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6887977 | 一次線走査装置および信号処理方法 | 2021年 6月16日 | |
| 特許 6887982 | キャリブレーション方法および分析装置 | 2021年 6月16日 | |
| 特許 6876418 | 画像取得方法および電子顕微鏡 | 2021年 5月26日 | |
| 特許 6876427 | 報告書作成装置、プログラム、情報記憶媒体、および報告書作成方法 | 2021年 5月26日 | |
| 特許 6876455 | 観察方法および試料作製方法 | 2021年 5月26日 | |
| 特許 6876471 | ＮＭＲ試料管導入回収装置、及び、ＮＭＲ試料管導入回収方法 | 2021年 5月26日 | |
| 特許 6876519 | 荷電粒子線装置 | 2021年 5月26日 | |
| 特許 6876574 | Ｘ線分析装置およびスペクトル生成方法 | 2021年 5月26日 | |
| 特許 6876576 | 三次元像構築方法 | 2021年 5月26日 | |
| 特許 6876650 | 自動分析装置および自動分析方法 | 2021年 5月26日 | |
| 特許 6876652 | 観察方法、試料支持体、試料保持具セット、および透過電子顕微鏡 | 2021年 5月26日 | |
| 特許 6876654 | 電子顕微鏡 | 2021年 5月26日 | |
| 特許 6876668 | 質量分析システム及びエミッタ電流制御方法 | 2021年 5月26日 | |
| 特許 6868468 | 画像処理装置、表面分析装置、および画像処理方法 | 2021年 5月12日 | |
| 特許 6868474 | ３次元積層造形装置 | 2021年 5月12日 |
120 件中 61-75 件を表示
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6887977 6887982 6876418 6876427 6876455 6876471 6876519 6876574 6876576 6876650 6876652 6876654 6876668 6868468 6868474
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