日本電子株式会社
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■ 2021年 出願公開件数ランキング 第446位 77件
（
2020年：第450位 75件）
■ 2021年 特許取得件数ランキング 第250位 116件
（2020年：第420位 61件）
（ランキング更新日：2025年4月15日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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日本電子株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6851345 | 荷電粒子線装置および画像取得方法 | 2021年 3月31日 | |
| 特許 6851348 | 真空装置及び復旧支援方法 | 2021年 3月31日 | |
| 特許 6843790 | イオンミリング装置及び試料ホルダー | 2021年 3月17日 | |
| 特許 6843794 | 収差補正装置および荷電粒子線装置 | 2021年 3月17日 | |
| 特許 6843800 | 自動分析装置、および自動分析方法 | 2021年 3月17日 | |
| 特許 6843817 | 質量分析装置、ガスクロマトグラフ質量分析装置及び焼き出し電流制御装置 | 2021年 3月17日 | |
| 特許 6843913 | 透過電子顕微鏡の制御方法および透過電子顕微鏡 | 2021年 3月17日 | |
| 特許 6836931 | 自動分析装置 | 2021年 3月 3日 | |
| 特許 6837085 | 自動分析装置及びプログラム | 2021年 3月 3日 | |
| 特許 6837086 | 自動分析装置 | 2021年 3月 3日 | |
| 特許 6837088 | イオンビーム電流測定装置、試料作成装置及びイオンビーム電流算出方法 | 2021年 3月 3日 | |
| 特許 6823300 | 試料作製装置 | 2021年 2月 3日 | |
| 特許 6823304 | ＮＭＲプローブシステム及びＮＭＲプローブシステム使用方法 | 2021年 2月 3日 | |
| 特許 6823305 | ＤＮＰ−ＮＭＲプローブ及びその使用方法 | 2021年 2月 3日 | |
| 特許 6823993 | 支持装置および真空装置 | 2021年 2月 3日 |
120 件中 91-105 件を表示
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6851345 6851348 6843790 6843794 6843800 6843817 6843913 6836931 6837085 6837086 6837088 6823300 6823304 6823305 6823993
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