日本電子株式会社
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■ 2021年 出願公開件数ランキング 第446位 77件
（
2020年：第450位 75件）
■ 2021年 特許取得件数ランキング 第250位 116件
（2020年：第420位 61件）
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日本電子株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6868480 | 歪み補正方法および電子顕微鏡 | 2021年 5月12日 | |
| 特許 6868592 | クロマトグラフ質量分析システム及び測定条件表示方法 | 2021年 5月12日 | |
| 特許 6857449 | Ｘ線分析装置 | 2021年 4月14日 | |
| 特許 6857501 | 荷電粒子ビーム装置のフォーカス調整方法、および荷電粒子ビーム装置 | 2021年 4月14日 | |
| 特許 6857511 | 走査電子顕微鏡 | 2021年 4月14日 | |
| 特許 6857569 | 質量分析システム及び質量スペクトル表示方法 | 2021年 4月14日 | |
| 特許 6857570 | 容器収容ユニット及び自動分析装置 | 2021年 4月14日 | |
| 特許 6857574 | 質量分析データ処理装置、質量分析システム及び質量分析データ処理方法 | 2021年 4月14日 | |
| 特許 6857575 | 収差測定方法および電子顕微鏡 | 2021年 4月14日 | |
| 特許 6857577 | ガスクロマトグラフ質量分析装置、およびガスクロマトグラフ質量分析方法 | 2021年 4月14日 | |
| 特許 6857584 | 質量分析装置 | 2021年 4月14日 | |
| 特許 6857642 | ＮＭＲ測定装置及び試料管回転制御方法 | 2021年 4月14日 | |
| 特許 6854666 | 除振装置および除振台 | 2021年 4月 7日 | |
| 特許 6851262 | 電子顕微鏡像の歪み測定方法および電子顕微鏡 | 2021年 3月31日 | |
| 特許 6851283 | 画像処理装置、分析装置、および画像処理方法 | 2021年 3月31日 |
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6868480 6868592 6857449 6857501 6857511 6857569 6857570 6857574 6857575 6857577 6857584 6857642 6854666 6851262 6851283
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